特許
J-GLOBAL ID：200903058520316373

メモリの故障診断装置

発明者：
後藤 健一

後藤 健一 について


出願人/特許権者：
日産自動車株式会社

日産自動車株式会社 について


代理人 (1件)： 後藤 政喜 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-238416
公開番号（公開出願番号）：特開2000-065692
出願日： 1998年08月25日
公開日（公表日）： 2000年03月03日
要約：
【要約】【課題】 車両の制御装置において、メモリ(ROMおよびRAM)の故障を確実に確認し得る故障診断装置を提供する。【解決手段】 車両の制御装置において、メモリ3のROM4に、第1、第2のROM故障診断用プログラムを記憶する第1、第2の記憶領域6A、6Bを備え、第1、第2のROM故障診断用プログラムの少なくとも一方で故障検出がなされた場合に、ROM故障時のフェールセーフ処理を行う。また、メモリのRAM5に、第1、第2のRAM故障用フラグのための第1、第2の記憶領域9A、9Bを備え、第1、第2のRAM故障用フラグの少なくとも一方がRAM5の故障を示すときに、RAM故障時のフェールセール処理を行う。
請求項（抜粋）：
車両の制御装置に備えられ、演算処理装置における各種演算に必要な情報を記憶するメモリの故障を診断するメモリの故障診断装置において、前記メモリのROMに、このROM自身の故障を診断するプログラムを記憶する複数の記憶領域を備え、前記演算処理装置は、各記憶領域に記憶されたプログラムに基づく複数の故障診断の少なくとも一つでROMの故障を検出した場合に、ROMの故障に対応するフェールセーフ処理を実施することを特徴とするメモリの故障診断装置。
IPC (4件)：
G01M 17/007 ,  G06F 12/16 330 ,  G11C 29/00 651 ,  G11C 29/00 652
FI (4件)：
G01M 17/00 H ,  G06F 12/16 330 D ,  G11C 29/00 651 Z ,  G11C 29/00 652
Fターム (13件)：
5B018GA01 ,  5B018HA40 ,  5B018JA22 ,  5B018KA30 ,  5B018MA40 ,  5B018NA01 ,  5B018NA04 ,  5B018QA13 ,  5L106AA01 ,  5L106AA02 ,  5L106AA07 ,  5L106DD24 ,  5L106DD25
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • 特開昭57-171046
  • ICカード内蔵メモリの検査方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-013228   出願人：大日本印刷株式会社
  • RAM試験方式
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-059435   出願人：日本電気株式会社, 甲府日本電気株式会社

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