特許
J-GLOBAL ID：200903058723621589

赤外線分光分析装置

発明者：
高橋 清一

高橋 清一 について


出願人/特許権者：
三菱重工業株式会社

三菱重工業株式会社 について


代理人 (1件)： 長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-356112
公開番号（公開出願番号）：特開2000-180356
出願日： 1998年12月15日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：
【要約】【課題】 高温試料からの発生ガスを精度良く測定可能な赤外線分光分析装置を提供する。【解決手段】 赤外線分光分析装置10は、試料33を加熱する加熱炉34と、干渉計13を経た赤外線照射路上に配置されており、加熱炉34に直結されて試料33から発生したガスが導かれるガスセル22とを備え、重量センサ34により加熱による試料33の質量変化を測定するとともに、検出器24と演算制御部18とにより試料33から発生したガスの赤外吸収スペクトルを同時に測定する。
請求項（抜粋）：
試料を加熱し、前記試料から発生するガスに赤外線を照射して吸収スペクトルを分析する赤外線分光分析装置において、前記試料を加熱する加熱炉と、赤外線照射路上に配置されており、前記加熱炉に直結されて前記試料から発生したガスが導かれるガスセルと、を備えていることを特徴とする赤外線分光分析装置。
IPC (4件)：
G01N 21/35 ,  G01N 5/04 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/03
FI (4件)：
G01N 21/35 Z ,  G01N 5/04 A ,  G01N 21/01 C ,  G01N 21/03 Z
Fターム (15件)：
2G057AA01 ,  2G057AB02 ,  2G057AC03 ,  2G057DB05 ,  2G057EA02 ,  2G057EA06 ,  2G057EA08 ,  2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059DD16 ,  2G059EE10 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01
引用特許：
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM