特許
J-GLOBAL ID:200903058779843290

マイクロチップ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 小野 由己男 ,  稲積 朋子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-128589
公開番号(公開出願番号):特開2007-298474
出願日: 2006年05月02日
公開日(公表日): 2007年11月15日
要約:
【課題】本発明は、キュベット部を通過する透過光を精度良く制御し、かつ製造工程の簡単化及び製造コストの低下を図ることができるマイクロチップを提供することを目的とする。【解決手段】基板内部に形成され、試料が導入される検出路23と、検出路23の一端の基板により形成され、検出路23に光を入射する入射端部29と、検出路23の他端の基板により形成され、検出路23を通過後の光を基板外部に出射する出射端部31とを含み、出射端部31は、検出路23の一端に対応する基板の外壁の切り欠き部33を有して形成されており、切り欠き部33及は、検出路23から出射される光の出射面積を制限するマイクロチップを提供する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
基板内部に形成され、定量対象の試料が導入される検出路と、 前記検出路の一端の基板により形成され、検出路に光を入射する入射端部と、 前記検出路の他端の基板により形成され、前記検出路を通過後の光を前記基板外部に出射する出射端部とを含み、 前記検出路から出射される光の出射面積を制限するために、前記出射端部の前記検出路の一端に対応する基板外壁の切り欠き部及び前記入射端部の検出路内壁の面取り部の少なくともいずれかが形成されている、マイクロチップ。
IPC (3件):
G01N 35/08 ,  G01N 21/03 ,  G01N 37/00
FI (3件):
G01N35/08 D ,  G01N21/03 Z ,  G01N37/00 101
Fターム (11件):
2G057AA01 ,  2G057AB06 ,  2G057AC01 ,  2G057BA01 ,  2G057BB02 ,  2G057BD10 ,  2G058BA06 ,  2G058DA07 ,  2G058DA09 ,  2G058EB11 ,  2G058GA06
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (9件)
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