特許
J-GLOBAL ID：200903059338185421
有機材料の微細領域分析方法および微細領域分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-425515
公開番号（公開出願番号）：特開2004-279407
出願日： 2003年12月22日
公開日（公表日）： 2004年10月07日
要約：
【課題】有機材料を数ナノメートルオーダーで評価するための方法を提供する。【解決手段】本発明によれば、従来技術では確立されていない有機材料の数ナノメートルオーダーでの評価装置及び評価方法が提案され、特に有機材料における電子準位間での遷移過程でのエネルギーに関する情報を、表面方向若しくは断面方向から数ナノメートル以下の空間分解能で得ることができ、更に異種物質を接合したときの界面状態の評価にも応用できる。例えば、半導体有機材料や有機発光デバイスにおける電極と有機層との界面におけるポテンシャルの勾配や荷電状態を評価し、その結果を元に素子のバンドダイヤグラムを作成し、素子の高度に高い機能発現を実現することが可能となる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
有機材料を含む試料に対して、分析対象の単分子サイズと同程度であるか、若しくはそれより小さい分析領域で、または外接円の直径が0.01nm〜10nmの分析領域で、有機材料のポテンシャルおよび荷電状態の少なくとも一方の評価を行うことを特徴とする有機材料の微細領域分析方法。
IPC (3件)：
G01N23/225
, G01N1/28
, H01J37/244
G01N23/225
, H01J37/244
, G01N1/28 F
, G01N1/28 G
, G01N1/28 K
2G001AA03
, 2G001BA07
, 2G001CA03
, 2G001GA06
, 2G001GA08
, 2G001JA14
, 2G001LA20
, 2G001RA01
, 2G001RA10
, 2G052AA13
, 2G052AD52
, 2G052EB11
, 2G052EB13
, 2G052EC03
, 2G052EC18
, 2G052GA34
, 2G052HB08
, 5C033NN03
, 5C033NN07
, 5C033NP04
出願人引用 (16件)
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審査官引用 (17件)
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引用文献：
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