特許
J-GLOBAL ID:200903059343011164

レーザ顕微鏡

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-003990
公開番号(公開出願番号):特開2004-219513
出願日: 2003年01月10日
公開日(公表日): 2004年08月05日
要約:
【課題】レーザ光強度が変動してもその影響を受けない画像を得ることのできるレーザ顕微鏡を提供する。【解決手段】標本からの光を光検出器で検出して、その信号を処理装置で標本の画像信号に変換して出力する。光源から射出されるレーザ光の一部を参照光として参照光検出器で検出し、その信号を補正データ処理装置でレーザ光が照明する標本上の位置に対応する補正データに変換して出力する。処理装置が出力する標本の画像信号を補正データ処理装置が出力する補正データに基づいて補正手段によって補正する.【選択図】 図1
請求項(抜粋):
レーザ光を射出する光源と、 前記レーザ光を標本上で走査する走査装置と、 前記標本からの光を検出する光検出器と、 前記光検出器からの信号を前記標本の画像信号に変換して出力する処理装置と、を備えたレーザ顕微鏡において、 前記光源から射出される前記レーザ光の一部を参照光として検出する参照光検出器と、 前記参照光検出器からの信号を前記レーザ光が照明する前記標本上の位置に対応する補正データに変換して出力する補正データ処理装置と、 前記処理装置が出力する前記標本の画像信号を前記補正データ処理装置が出力する前記補正データに基づいて補正する補正手段とを備える、 ことを特徴とするレーザ顕微鏡。
IPC (1件):
G02B21/00
FI (1件):
G02B21/00
Fターム (8件):
2H052AA07 ,  2H052AA08 ,  2H052AA09 ,  2H052AC04 ,  2H052AC15 ,  2H052AC28 ,  2H052AC34 ,  2H052AF25
引用特許:
出願人引用 (2件)
  • レーザー走査型顕微鏡およびその参照補正方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-280593   出願人:ライカマイクロシステムスハイデルベルクゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
  • レーザ顕微鏡
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2001-070806   出願人:オリンパス光学工業株式会社
審査官引用 (2件)
  • レーザー走査型顕微鏡およびその参照補正方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-280593   出願人:ライカマイクロシステムスハイデルベルクゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
  • レーザ顕微鏡
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2001-070806   出願人:オリンパス光学工業株式会社

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