特許
J-GLOBAL ID：200903059358359540
混合試験評価システム装置及び方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
平山 一幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-041916
公開番号（公開出願番号）：特開2004-251734
出願日： 2003年02月19日
公開日（公表日）： 2004年09月09日
要約：
【課題】混合試験において形成される混合界面の場所を確定し、各場所における物性を評価する混合試験評価システム装置及び方法を提供する。【解決手段】種類の異なる物質を接触させて融解させ、その結果生じた混合界面の物性を評価するシステム装置で、レーザ光源2と、混合界面を跨ぐよう、レーザ光源2から出力したレーザ光L1を拡大するビームエキスパンダ4と、サンプル3aを固定すると共に、温度コントローラ6によりそのサンプル3aの温度を制御可能とするサンプルホルダ3と、サンプル3aからの透過光L3の強度を測定するマルチチャンネル型の光検出器5とを具備する。サンプル3aの任意の温度状態の下で、このサンプル3aの混合界面を含む各箇所に対して、レーザ光L2を同時に照射し、光検出器5でその箇所毎に透過光強度を測定する。その透過光強度の温度分布から液晶性を評価する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
種類の異なる物質を接触させて融解させ、その結果生じた混合界面の物性を評価する混合試験の評価システム装置であって、
その物質にとって電子遷移によるエネルギー吸収のないレーザ光を発振するレーザ光源と、
上記混合界面を跨ぐよう、上記レーザ光源から出力されたレーザ光を拡大するビームエキスパンダと、
上記混合試験の対象となるサンプルを固定すると共に、温度コントローラによりそのサンプルの温度を制御可能とするサンプルホルダと、
上記サンプルからの透過光の強度を測定するマルチチャンネル型の光検出器とを具備し、
上記サンプルの任意の温度状態の下において、このサンプルの混合界面を含む各箇所に対して、上記ビームエキスパンダにより拡大されたレーザ光を同時に照射し、上記光検出器でその箇所毎に、透過光強度を測定することを特徴とする混合試験評価システム装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (11件)：
2G059AA03
, 2G059BB04
, 2G059BB15
, 2G059CC12
, 2G059DD16
, 2G059EE01
, 2G059FF01
, 2G059GG01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ17
, 2G059KK04
