特許
J-GLOBAL ID:200903059553182549

恒温形耐候光試験方法および耐候光試験機

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-376740
公開番号(公開出願番号):特開2007-178247
出願日: 2005年12月28日
公開日(公表日): 2007年07月12日
要約:
【課題】光源から多量の熱が放出される耐候光試験機において、その熱を除去するために過剰な容量の冷凍機と、加熱器を搭載することなく、最適なエネルギーで前記試験槽内の温調を行い、温度制御能力が高く、冷却器が凍結することがなく、運転電力の少ない恒温形耐候光試験方法および耐候光試験機を提供する。【解決手段】インバーター付きの電動機で駆動する冷凍機で試験槽内の温度を制御する形式の耐候光試験機において、光源から放出される熱量に対応する冷凍能力を出力するように前記電動機の回転数を制御すること、及び必要に応じて電子膨張弁を併用することによって、試験槽内を設定温度に保ち、設定温度以下の過冷状態になった場合には加熱器で昇温する手法を備えた。【選択図】図1
請求項(抜粋):
キセノンアーク、メタルハライドアーク、サンシャインカーボンアーク、紫外線カーボンアークのいずれかを光源とし、光源の異なる出力において試験槽内の温度制御を行う耐候光試験方法であって、該耐候光試験方法は耐候光試験機に、複数の周波数を段階的に選択設定できるインバーターで冷凍機の回転数を選択して冷却を行うことによって温度制御を行う冷却器を搭載し、予め、選択可能な周波数で冷却したときの光源の出力、インバーターの周波数、前記試験槽内の温度との関連を求め、そのデータを運転制御装置に記憶させておき、設定温度に最も近い条件になるように前記周波数を選定して冷凍機を運転制御し、前記設定温度より前記試験槽内の温度が高い場合には、前記周波数より1段階大きな周波数で冷凍機を作動させて冷却し、前記試験槽内の温度が前記設定温度より低い場合には、前記設定温度と前記試験槽内の温度との差の程度に応じて、冷凍機に連結する膨張弁と加熱器とを作動させることを特徴とする恒温形耐候光試験方法。
IPC (1件):
G01N 17/00
FI (1件):
G01N17/00
Fターム (4件):
2G050BA09 ,  2G050EA01 ,  2G050EA03 ,  2G050EB10
引用特許:
出願人引用 (2件)
  • 特許3705497号公報
  • 省エネ型冷凍能力制御装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-067330   出願人:タバイエスペック株式会社
審査官引用 (5件)
  • 特開平3-154848
  • 耐光試験方法及び耐光試験機
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-133832   出願人:スガ試験機株式会社, トヨタ自動車株式会社
  • 冷凍装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-168093   出願人:ダイキン工業株式会社
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