特許

J-GLOBAL ID：200903060209419295

性能チューニング方法及び装置、プログラム及び記憶媒体

発明者： 渡辺 学
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-056632
公開番号（公開出願番号）：特開2007-233855
出願日： 2006年03月02日
公開日（公表日）： 2007年09月13日
要約：

【課題】本発明は、性能チューニング方法及び装置、プログラム及び記憶媒体に関し、プログラムの性能チューニングを効率を向上することを目的とする。【解決手段】プログラムの実行性能をチューニングする性能チューニング方法において、任意の測定環境でプログラムの実行性能を測定した際に設定された測定条件と、測定の結果取得されたプログラムの性能情報とを、任意の測定環境とは異なる次回の測定環境の候補に対してリンク可能に管理し、任意の測定環境とは異なる測定環境を用いてプログラムの実行性能を測定する際の測定条件を、リンク可能に管理された情報に基づいて自動的に設定し、性能情報に応じてプログラムの実行性能をチューニングするように構成する。【選択図】図13

請求項（抜粋）：

プログラムの実行性能をチューニングする性能チューニング方法であって、 任意の測定環境でプログラムの実行性能を測定した際に設定された測定条件と、測定の結果取得されたプログラムの性能情報とを、該任意の測定環境とは異なる次回の測定環境の候補に対してリンク可能に管理する管理ステップと、 該任意の測定環境とは異なる測定環境を用いて該プログラムの実行性能を測定する際の測定条件を、リンク可能に管理された情報に基づいて自動的に設定する設定ステップと、 該性能情報に応じて該プログラムの実行性能をチューニングするチューニングステップとを含むことを特徴とする、性能チューニング方法。

IPC (1件)：

G06F 11/34

FI (2件)：

G06F11/34 M ,  G06F11/34 S

Fターム (11件)：

5B042HH20 ,  5B042LA02 ,  5B042MA08 ,  5B042MA14 ,  5B042MB04 ,  5B042MC23 ,  5B042MC28 ,  5B042MC33 ,  5B042NN32 ,  5B042NN33 ,  5B042NN50

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 命令性能測定方式
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-159146   出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立インフォメーションテクノロジー
• 特開平4-195436
  
• プログラムテスト方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-226622   出願人：日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
• 性能測定装置、性能測定システム、性能測定方法、記録媒体およびプログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-373304   出願人：新日鉄ソリューションズ株式会社