特許
J-GLOBAL ID:200903060314573305

性能測定装置、性能測定システム、性能測定方法、記録媒体およびプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 國分 孝悦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-373304
公開番号(公開出願番号):特開2003-173277
出願日: 2001年12月06日
公開日(公表日): 2003年06月20日
要約:
【要約】【課題】 異なる複数の測定条件を同時に入力できるようにするとともに、異なる複数の測定条件での情報処理システムの性能試験を自動的に連続して実行できるようにする。【解決手段】 条件入力画面としてパラメータおよび設定値の入力欄が追加可能な表形式の画面を用いるとともに、条件入力画面を介して入力された互いに異なるパラメータ群のそれぞれ1つの設定値を、テストパターン制御部211にて、任意に組み合わせてテストパターンおよび設定値に関する情報であるパラメータファイルを自動的に生成し、生成したパラメータファイルに基づいて、実行制御部220により情報処理システムのサーバ103、クライアント端末104を制御して性能試験を1回の入力動作だけで連続して実行させることができるようにする。
請求項(抜粋):
入力された測定条件に基づいて、所定のサービスを提供する情報処理システムの性能を測定する性能測定装置であって、上記測定条件に係る情報を入力するための条件入力画面を、少なくとも1つの情報処理装置からなり上記所定のサービスを提供する第1の情報処理装置群に関する部分と、少なくとも1つの情報処理装置からなり上記所定のサービスの提供を受ける第2の情報処理装置群に関する部分と、上記所定のサービスに関する部分とに分割して、上記条件入力画面を上記所定のサービスに関わらず共通の形式にするとともに、上記測定条件の同じ項目に複数の設定値を入力可能にして、上記測定条件の互いに異なる項目の設定値からなる1組の設定値群を1つの性能試験データとして、上記条件入力画面を介して入力された上記測定条件の互いに異なる項目の設定値を任意に組み合わせて自動的に生成した性能試験データに基づいて、上記情報処理システムに性能試験を実行させることを特徴とする性能測定装置。
IPC (2件):
G06F 11/34 ,  G06F 11/32
FI (2件):
G06F 11/34 S ,  G06F 11/32 A
Fターム (12件):
5B042HH20 ,  5B042LA13 ,  5B042LA17 ,  5B042MA05 ,  5B042MA08 ,  5B042MC29 ,  5B042MC33 ,  5B042NN08 ,  5B042NN23 ,  5B042NN34 ,  5B042NN44 ,  5B042NN45
引用特許:
審査官引用 (16件)
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