特許
J-GLOBAL ID:200903060744494336
質量分析計及び質量分析方法
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小川 勝男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-148977
公開番号(公開出願番号):特開平7-073848
出願日: 1994年06月30日
公開日(公表日): 1995年03月17日
要約:
【要約】【目的】複数のイオン源を用い、前記イオン源を短時間に切り換え、分析対象を拡大したLC/MSを提供する。【構成】APCI部1とESI部2を回転台11または往復台19に設置し、前記回転台11は、受台13とオサエリング12とにより回転可能に、前記往復台19は、受台21とオサオ金具20とベアリング22と送りネジ23とにより往復可能にそれぞれ構成されている。APCI部1とESI部2とは、第一細孔16,第二細孔17,質量分析部18に対向する位置に移動せしめられ、それぞれのイオン化法によりイオン化し質量分析を可能にするものである。【効果】複数イオン源を簡単に切り換えられ、分析対象物質が拡大し、一つのサンプルに対して複数のマススペクトルを得て分子構造解析等が容易にできる。
請求項(抜粋):
液体クロマトグラフで分離し、大気圧イオン化イオン源で前記分離成分を霧化,イオン化し、質量分析を行う質量分析計において、前記大気圧イオン化イオン源を複数個と、前記複数個のイオン源を切り換える切換器とを備えたことを特徴とする質量分析計。
IPC (2件):
引用特許:
出願人引用 (10件)
-
特開平1-276560
-
特開平4-127050
-
質量分析計
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-241898
出願人:株式会社日立製作所
-
特開平4-274153
-
特開平3-105840
-
特開平4-109160
-
特開平3-138561
-
質量分析計
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-007332
出願人:株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
-
特開昭53-033689
-
特開昭53-087791
全件表示
審査官引用 (8件)
-
特開平1-276560
-
特開平4-127050
-
質量分析計
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-241898
出願人:株式会社日立製作所
-
特開平4-274153
-
特開平3-105840
-
特開平4-109160
-
特開平3-138561
-
質量分析計
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-007332
出願人:株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
全件表示
前のページに戻る