特許
J-GLOBAL ID：200903060929290346

大規模構造物計測装置及び大規模構造物計測方法

発明者：
森 直樹

森 直樹 について


出願人/特許権者：
菱日エンジニアリング株式会社

菱日エンジニアリング株式会社 について


代理人 (2件)： 工藤 実 ,  中尾 圭策
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-307706
公開番号（公開出願番号）：特開2006-119005
出願日： 2004年10月22日
公開日（公表日）： 2006年05月11日
要約：
【課題】 より大規模な構造物をより精密に、かつ、より容易に計測すること。 【解決手段】 計測対象物6に取り付けられる複数のマーカ2、3、5と、互いに異なる複数位置8-1〜8-4から計測対象物6の全体を映し出す複数の画像にそれぞれ撮像するカメラと、複数位置8-1〜8-4に独立に画像のうちのマーカ2、3、5が映し出される位置に基づいて計測対象物6の複数の測量対象点の3次元位置関係を算出する計測装置本体61とを備えている。マーカ2、3、5は、その複数の測量対象点をそれぞれ指示する複数の第1マーカ2と、第1マーカ2と異なる位置に配置される複数の第2マーカ3とから形成される。大規模構造物計測装置1は、第2マーカ3を設けることにより、第1マーカ2のみを設けることより正確に、かつ、より容易に測量対象点の3次元位置関係を算出することができる。 【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
計測対象物に取り付けられる複数のマーカと、 互いに異なる複数位置から前記計測対象物の全体を映し出す複数の画像にそれぞれ撮像するカメラと、 前記複数位置に独立に前記画像のうちの前記マーカが映し出される位置に基づいて前記計測対象物の複数の測量対象点の3次元位置関係を算出する計測装置本体とを具備し、 前記マーカは、 前記複数の測量対象点をそれぞれ指示する複数の第1マーカと、 前記第1マーカと異なる位置に配置される複数の第2マーカとから形成される 大規模構造物計測装置。
IPC (3件)：
G01C 11/06 ,  G01B 11/00 ,  G01C 15/06
FI (3件)：
G01C11/06 ,  G01B11/00 H ,  G01C15/06 T
Fターム (15件)：
2F065AA04 ,  2F065AA17 ,  2F065BB05 ,  2F065BB28 ,  2F065CC14 ,  2F065DD03 ,  2F065EE08 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065GG08 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 立体形状計測装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-011044   出願人：株式会社小松製作所
  • 特許2512132号公報
審査官引用 (8件)
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