特許
J-GLOBAL ID：200903061265563630
設備及び製品プロセス異常状態の診断方法及び診断装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井上 春季 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-297848
公開番号（公開出願番号）：特開平10-122917
出願日： 1996年10月23日
公開日（公表日）： 1998年05月15日
要約：
【要約】【課題】 最適化を容易に行うことができる設備及び製品プロセス異常状態の診断方法を提供する。【解決手段】 測定した異常状態が、設備異常または品質異常の問題とならないレベルに設定した所定の閾値を超えた場合(S2)に、当該異常に関連する状態説明変数及び異常目的変数を求め(S3)、ニューラルネットワークにより、1あるいは複数の異常要因分析を行って、状態目的変数に対する状態説明変数の影響を同定し(S4〜S7)、異常目的変数を所定の閾値内に抑えるために修正すべき状態説明変数の1あるいは複数の解を、組み合わせ最適化方法によって自動的に導き出す(S8)。
請求項（抜粋）：
対象設備及び製品プロセスの異常状態を、オンラインまたはオフラインで診断する方法において、測定した異常状態が、設備異常または品質異常の問題とならないレベルに設定した所定の閾値を超えた場合に、当該異常に関連する状態説明変数及び異常目的変数を求め、ニューラルネットワークにより、1あるいは複数の異常要因分析を行って、状態目的変数に対する状態説明変数の影響を同定し、異常目的変数を所定の閾値内に抑えるために修正すべき状態説明変数の1あるいは複数の解を、組み合わせ最適化方法によって自動的に導き出すことを特徴とする設備及び製品プロセス異常状態の診断方法。
IPC (5件)：
G01D 21/00
, G01M 19/00
, G05B 13/02
, G05B 23/02 302
, G06F 15/18 550
G01D 21/00 Q
, G01M 19/00 Z
, G05B 13/02 K
, G05B 23/02 302 Y
, G06F 15/18 550 C
