特許
J-GLOBAL ID:200903062406446590
露光用マスク、及び薄膜トランジスタの製造方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
上柳 雅誉
, 須澤 修
, 宮坂 一彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-279959
公開番号(公開出願番号):特開2009-109610
出願日: 2007年10月29日
公開日(公表日): 2009年05月21日
要約:
【課題】階調付きレジスト膜を高精度に形成する。【解決手段】露光用マスクは、透明基板(100)と、この透明基板上に所定の繰り返しパターンである第1パターンで形成された第1パターン部分(110b)を有する遮光膜(110)と、透明基板上における第1パターン部分が形成された第1パターン領域(R2)を含む領域に形成され、露光光を透過する透過率が遮光膜より高い半透明膜(120)とを備える。【選択図】図2
請求項(抜粋):
透明基板と、
該透明基板上に所定の繰り返しパターンである第1パターンで形成された第1パターン部分を有する遮光膜と、
前記透明基板上における前記第1パターン部分が形成された第1パターン領域を含む領域に形成され、露光光を透過する透過率が前記遮光膜より高い半透明膜と
を備えたことを特徴とする露光用マスク。
IPC (5件):
G03F 1/08
, H01L 21/027
, H01L 21/336
, H01L 29/786
, H01L 21/266
FI (5件):
G03F1/08 A
, H01L21/30 502P
, H01L29/78 616A
, H01L29/78 627C
, H01L21/265 M
Fターム (22件):
2H095BB25
, 2H095BC01
, 2H095BC04
, 2H095BC05
, 2H095BC24
, 5F110AA16
, 5F110BB01
, 5F110CC02
, 5F110DD02
, 5F110DD03
, 5F110EE09
, 5F110GG02
, 5F110GG13
, 5F110GG47
, 5F110HJ01
, 5F110HJ13
, 5F110HL03
, 5F110HL05
, 5F110HL22
, 5F110NN03
, 5F110QQ02
, 5F110QQ11
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (4件)