特許
J-GLOBAL ID:200903062429545260

大気中微粒子測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 川口 嘉之 ,  松倉 秀実 ,  遠山 勉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-174875
公開番号(公開出願番号):特開2006-349448
出願日: 2005年06月15日
公開日(公表日): 2006年12月28日
要約:
【課題】大気中に浮遊する微粒子の数量または濃度を、例えば、周囲環境の大気の流れにかかわらず高精度で安定的に測定する、あるいは、従来の測定方式によって得られたデータに対して相関の高いデータを集めるなどの測定目的に応じて、最適な方法で測定可能とする。【解決手段】大気中に浮遊する微粒子を導入して光を照射し、前記微粒子から発生した散乱光および/または蛍光を検出して前記大気中の微粒子の数量または濃度を測定する装置において、大気を導入する大気導入部を目的に応じて交換可能とした。【選択図】図1
請求項(抜粋):
大気中に浮遊する微粒子を測定する大気中微粒子測定装置において、 大気を導入する大気導入部と、 前記大気導入部によって導入された大気が通過する流路手段と、 前記流路手段の所定部位に光を照射する光照射手段と、 前記流路手段の所定部位を通過する大気中の微粒子に光が照射されることにより所定方向に発生した、散乱光および/または蛍光を受光する受光手段と、 前記受光手段からの信号のパルスを計数して演算することにより、前記大気中の微粒子の数量または濃度を導出する信号処理手段と、 前記流路手段、光照射手段及び受光手段を内部において支持固定する装置筐体と、を備え、 前記大気導入部は前記装置筐体に脱着可能に設置され、構造の異なる交換用大気導入部と交換可能としたことを特徴とする大気中微粒子測定装置。
IPC (4件):
G01N 15/00 ,  G01N 15/06 ,  G01N 21/47 ,  G01N 21/64
FI (4件):
G01N15/00 A ,  G01N15/06 D ,  G01N21/47 Z ,  G01N21/64 Z
Fターム (33件):
2G043AA01 ,  2G043CA01 ,  2G043CA06 ,  2G043EA01 ,  2G043EA14 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA02 ,  2G043NA06 ,  2G059AA01 ,  2G059BB02 ,  2G059CC19 ,  2G059EE02 ,  2G059EE07 ,  2G059GG01 ,  2G059GG05 ,  2G059GG10 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059KK01 ,  2G059KK02 ,  2G059MM10
引用特許:
出願人引用 (10件)
  • 特許第3113720号公報
  • 微粉粒子モニター
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-184936   出願人:株式会社大和製作所
  • 花粉センサ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-228941   出願人:三洋電機株式会社
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審査官引用 (4件)
  • 気中物質捕集装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-229209   出願人:株式会社テルム
  • 花粉検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-076181   出願人:松下電器産業株式会社
  • 粒度分布計測方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2002-276510   出願人:株式会社リコー
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