特許
J-GLOBAL ID：200903040571387813

浮遊粒子状物質濃度測定装置

発明者：
篠原 政良

篠原 政良 について


出願人/特許権者：
株式会社堀場製作所

株式会社堀場製作所 について


代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-311384
公開番号（公開出願番号）：特開2004-144664
出願日： 2002年10月25日
公開日（公表日）： 2004年05月20日
要約：
【課題】分粒器としてPM2.5測定に指定されているインパクト式サンプラを採用して、設置が容易であると共に、ベースライン試験を行うためのフィルタを取付け可能とした浮遊粒子状物質濃度測定装置を提供する。【解決手段】中心部に配管接続部6を形成してサンプルガスSを真下に導入可能とするサンプル導入部8を有するインパクト式サンプラ4と、このインパクト式サンプラ4を通過したサンプルガスS中の浮遊粒子状物質の濃度を測定する測定部18とを有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
中心部に配管接続部を形成してサンプルガスを真下に導入可能とするサンプル導入部を有するインパクト式サンプラと、 このインパクト式サンプラを通過したサンプルガス中の浮遊粒子状物質の濃度を測定する測定部とを有することを特徴とする浮遊粒子状物質濃度測定装置。
IPC (2件)：
G01N15/00 ,  G01N15/06
FI (2件)：
G01N15/00 C ,  G01N15/06 D
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)
  • 浮遊粒子状物質の連続測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-162942   出願人：紀本電子工業株式会社, 科学技術振興事業団
  • 特開昭58-098117
  • 集塵/カウント装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-109582   出願人：横河電機株式会社
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