特許
J-GLOBAL ID:200903062443593935
広域濁度分布の計測方法およびその装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
杉山 泰三
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-129835
公開番号(公開出願番号):特開2002-323436
出願日: 2001年04月26日
公開日(公表日): 2002年11月08日
要約:
【要約】【課題】 計測レンジの異なる複数の濁度センサとコンピュータを用いて広い範囲に亘る濁度(懸濁物の濃度)を計測できるようにした新規の広域濁度分布の計測方法およびその装置を提供する。【解決手段】 低濁度分布域計測用濁度センサと高濁度分布域計測用濁度センサをモータ駆動ワイヤー等昇降装置により下降もしくは上昇させ、低濁度分布域下降中もしくは上昇中では低濁度分布域計測用濁度センサにより低濁度分布域データをまた高濁度分布域下降中もしくは上昇中では高濁度分布域計測用濁度センサにより高濁度分布域データを、低濁度分布域データにおける深い方のデータと高濁度分布域データにおける浅い方のデータがオーバーラップする状態となしてそれぞれ計測すると共に当該オーバーラップした両部分のデータをコンピュータ処理して合成データを構成し、この合成データを介して連続した低濁度から高濁度までの濁度分布広域データを得るようにしたものである。
請求項(抜粋):
低濁度分布域計測用濁度センサと高濁度分布域計測用濁度センサをモータ駆動ワイヤー等昇降装置により下降もしくは上昇させ、低濁度分布域下降中もしくは上昇中では低濁度分布域計測用濁度センサにより低濁度分布域データをまた高濁度分布域下降中もしくは上昇中では高濁度分布域計測用濁度センサにより高濁度分布域データを、低濁度分布域データにおける深い方のデータと高濁度分布域データにおける浅い方のデータがオーバーラップする状態となしてそれぞれ計測すると共に当該オーバーラップした両部分のデータをコンピュータ処理して合成データを構成し、この合成データを介して連続した低濁度から高濁度までの濁度分布広域データを得ることを特徴とする広域濁度分布の計測方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N 15/06 E
, G01N 29/02
Fターム (5件):
2G047AA02
, 2G047GA13
, 2G047GA18
, 2G047GG16
, 2G047GJ02
引用特許:
出願人引用 (4件)
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X線反射率解析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-106443
出願人:株式会社日立製作所, 理学電機株式会社
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粒子画像分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-271453
出願人:東亜医用電子株式会社
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ポリクロメータ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-061665
出願人:日本分光株式会社
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特許第2745267号
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審査官引用 (4件)
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特許第2745267号
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X線反射率解析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-106443
出願人:株式会社日立製作所, 理学電機株式会社
-
粒子画像分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-271453
出願人:東亜医用電子株式会社
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ポリクロメータ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-061665
出願人:日本分光株式会社
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