特許
J-GLOBAL ID:200903062691703810
ボンドパッドおよびボンドパッド構造の製造方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
桑垣 衛
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-529519
公開番号(公開出願番号):特表2005-522019
出願日: 2002年08月20日
公開日(公表日): 2005年07月21日
要約:
ボンドパッド領域内に、最初に、平坦化された銅(18)と酸化ケイ素フィーチャ(14)との組み合わせを形成することによって、ボンドパッド(100)を形成する。酸化ケイ素のフィーチャ(14)をエッチバックして、ボンドパッド領域内の銅内に複数の凹部(15)を形成する。銅および酸化ケイ素フィーチャの上部ならびに凹部内に、腐食バリア(22)を形成する。プローブを銅に対して直接使用して、ウエハ(10)のプロービングを行う。ワイヤボンド部(24)は、銅(18)に直接取付けられる。銅内の凹部(15)により、ワイヤボンド部(24)は、腐食バリアをより容易に破壊かつ貫入し、またボンドパッド(100)上での摺動が低減される。
請求項(抜粋):
半導体基板(10)上にボンドパッド(100)を製造するための方法であって、
半導体基板上に誘電体層(12)を形成する工程と、
前記誘電体層(12)をパターニングして誘電体層(12)のボンドパッド領域内に複数のフィーチャ(14)を形成する工程と、
前記誘電体層(12)上、前記複数のフィーチャ(14)間、および前記複数のフィーチャ(14)上に銅層(16)を堆積させる工程と、
プローブ(80)を直接受容するために、前記銅層(16)をエッチバックした後、化学的機械研磨して、複数のフィーチャ(14)および銅層(18)が露出された頂面を備えたほぼ平坦な表面を形成する工程と、
前記複数のフィーチャ(14)をエッチバックして、エッチバックされた銅層内に凹部(15)を形成する工程と、
前記エッチバックされた銅層上および凹部内に、バリア層(22)を適用する工程とを含む方法。
IPC (2件):
FI (2件):
H01L21/60 301P
, H01L21/88 T
Fターム (28件):
5F033HH11
, 5F033HH18
, 5F033HH21
, 5F033HH32
, 5F033HH33
, 5F033MM21
, 5F033PP06
, 5F033PP14
, 5F033PP27
, 5F033QQ08
, 5F033QQ09
, 5F033QQ31
, 5F033QQ48
, 5F033RR01
, 5F033RR04
, 5F033RR06
, 5F033RR08
, 5F033RR22
, 5F033SS04
, 5F033SS07
, 5F033SS11
, 5F033SS21
, 5F033VV07
, 5F033XX01
, 5F033XX20
, 5F044AA14
, 5F044EE04
, 5F044EE07
引用特許:
審査官引用 (3件)
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半導体装置およびその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-141037
出願人:松下電子工業株式会社
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-033550
出願人:日東電工株式会社
-
半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-107805
出願人:日本電気株式会社
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