特許
J-GLOBAL ID：200903062816433046

クリーム半田の外観検査装置および外観検査方法

発明者：
坂口 博幸

坂口 博幸 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (1件)： 滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-352622
公開番号（公開出願番号）：特開平11-186711
出願日： 1997年12月22日
公開日（公表日）： 1999年07月09日
要約：
【要約】【課題】 基板に印刷されたクリーム半田の外観検査を段取りよく、かつスクリーンマスクの現状に則して的確に行うことができるクリーム半田の外観検査装置および外観検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】 ガイドレール10上にスクリーンマスク4を位置決めし、光学素子13によりパターン孔6の位置や寸法などのデータを読取る。次にスクリーンマスク4をガイドレール10から取り外してこのスクリーンマスク4を用いて基板7にクリーム半田を印刷する。次にこの基板7をコンベヤ11上に位置決めし、光学素子でクリーム半田の位置や寸法などのデータを読取る。そして読取られたパターン孔6とクリーム半田のデータを比較手段で比較し、クリーム半田の良否判定を行う。
請求項（抜粋）：
スクリーンマスクの位置決め部と、スクリーンマスクの位置決め部と同じ平面位置に設けられた基板の位置決め部と、前記各位置決め部に位置決めされたスクリーンマスクのパターン孔の位置と寸法並びにこのスクリーンマスクで基板に印刷されたクリーム半田の位置と寸法のデータを読取る光学素子と、この光学素子を水平方向に移動させる移動手段と、光学素子で読取られたデータを登録するメモリと、前記スクリーンマスクのデータと前記基板のデータを比較することによりクリーム半田の外観の良否を判定する判定手段とを備えたことを特徴とするクリーム半田の外観検査装置。
IPC (7件)：
H05K 3/34 512 ,  H05K 3/34 505 ,  B23K 1/00 ,  B41F 15/08 303 ,  B41F 15/12 ,  B41M 1/12 ,  G01N 21/88
FI (7件)：
H05K 3/34 512 A ,  H05K 3/34 505 C ,  B23K 1/00 A ,  B41F 15/08 303 E ,  B41F 15/12 A ,  B41M 1/12 ,  G01N 21/88 F
引用特許：
審査官引用 (4件)
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