特許
J-GLOBAL ID:200903062924882531

性状予測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 成瀬 重雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-299885
公開番号(公開出願番号):特開2004-132921
出願日: 2002年10月15日
公開日(公表日): 2004年04月30日
要約:
【課題】精度の良い性状予測方法を提供する。また、対象の変更に対して柔軟性の高い性状予測方法を提供する。【解決手段】試料の特性を示す既存スペクトルと、前記試料の性状を示す既存性状値との組を複数備えたデータベースを用いる。まず、データベースにおける第i番目および第j番目(i,jは任意の自然数)の組における既存スペクトルどうしの差と、既存性状値どうしのずれ量とに基づいて、スペクトルの差から性状値のずれ量を予測する補正モデルを生成する。ついで、特性未知の試料から未知スペクトルを取得する。ついで、未知スペクトルと一つの既存スペクトルとの差を算出する。ついで、この差を補正モデルに適用する。これにより、性状値の予測ずれ量を算出する。ついで、予測ずれ量と既存性状値とを用いて、特性未知の試料における性状値を予測する。【選択図】 図7
請求項(抜粋):
試料の吸光度を示す既存スペクトルと、前記試料の性状を示す既存性状値との組を複数備えたデータベースを用い、かつ、以下のステップを備えることを特徴とする性状予測方法: (a)第i番目および第j番目(i,jは任意の自然数)の前記組における前記既存スペクトルどうしの差を表す差スペクトルと、前記既存性状値どうしのずれ量とに基づいて、スペクトルの差から性状値のずれ量を予測する補正モデルを生成するステップ; (b)性状未知の試料への分光分析に基づいて未知スペクトルを取得するステップ; (c)前記未知スペクトルと第p番目(pは任意の自然数)の前記組における既存スペクトルとの差を表す差スペクトルを算出するステップ; (d)前記ステップ(c)で得られた差スペクトルを前記補正モデルに適用することによって、前記p番目の前記組における性状値への補正量を算出するステップ; (e)前記補正量と前記第p番目の前記組における既存性状値とを用いて、前記性状未知の試料における性状値を予測するステップ。
IPC (1件):
G01N21/35
FI (1件):
G01N21/35 Z
Fターム (14件):
2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059CC14 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE10 ,  2G059EE12 ,  2G059FF08 ,  2G059HH01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM03 ,  2G059MM05 ,  2G059MM10
引用特許:
審査官引用 (5件)
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引用文献:
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