特許

J-GLOBAL ID：200903063131275401

イオンガイド

発明者： 小林達次
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-071731
公開番号（公開出願番号）：特開2000-268770
出願日： 1999年03月17日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
要約：

【要約】【課題】イオンガイドの各ロッドの湾曲精度を気にする必要がなく、しかも、各ロッド間のギャップを所定の値に保って組み立てることのできるイオンガイドを提供する。【解決手段】4本以上の偶数本の折れ曲がった形状を有するロッドをイオン通路の周囲に配置することにより、屈曲したイオン通路を形成したイオンガイドであって、各ロッドの折れ曲がり部は、ロッドに設けられた切れ込み部分で折り曲げられて成る。また、前記各ロッドは、各ロッドの直線部分において、ホルダーによって一体的に固定されている。また、前記ホルダーは、絶縁物で作られている。

請求項（抜粋）：

4本以上の偶数本の折れ曲がった形状を有するロッドをイオン通路の周囲に配置することにより、屈曲したイオン通路を形成したイオンガイドであって、各ロッドの折れ曲がり部は、ロッドに設けられた切れ込み部分で折り曲げられて成ることを特徴とするイオンガイド。

IPC (2件)：

H01J 49/06 ,  G01N 27/62

FI (2件)：

H01J 49/06 ,  G01N 27/62 E

Fターム (3件)：

5C038FF07 ,  5C038FF10 ,  5C038JJ06

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 特開昭62-264546
  
• 特開昭60-257055
  
• 誘導結合プラズマ質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-266135   出願人：横河アナリティカルシステムズ株式会社
• 誘導結合プラズマ質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-093539   出願人：横河アナリティカルシステムズ株式会社