特許
J-GLOBAL ID：200903063188798303

印刷はんだ検査装置

発明者：
木村 剛

木村 剛 について

, 
高田 治

高田 治 について

, 
鈴木 勝之

鈴木 勝之 について


出願人/特許権者：
アンリツ株式会社

アンリツ株式会社 について


代理人 (1件)： 三澤 正義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-254315
公開番号（公開出願番号）：特開2006-071416
出願日： 2004年09月01日
公開日（公表日）： 2006年03月16日
要約：
【課題】 表示されたプリント基板のレイアウト上で印刷はんだされた状態が基準のデータに対してどの程度差があるか定量的に一瞥して分布或いは傾向が認識できるようにすることが目的である。【課題を解決するための手段】 差演算手段9により、測定された印刷はんだ状態を表す、印刷はんだの高さ、面積又は体積を、予め記憶した基準との差を偏差値として求め、階調割振手段10により、偏差値を表示上の階調で表現し、各印刷はんだ箇所毎に階調表示することで分布状態が認識できる構成にし、かつ階調表示がどの程度の偏差値かの目安となる階調スケールを表示する構成にした。さらに、より大きな目で全体の傾向が認識できるようにレイアウトを複数の領域に分けて領域毎に偏差値の平均をとり、その平均値を階調表示する構成にした。【解決手段】【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
プリント板の表面に光を照射させ、その反射光から得られるプリント板表面の各位置における変位を示す測定値を取得する測定手段(100)と、該測定値を記憶する測定値記憶手段(6)と、該測定値を基に、前記各位置におけるはんだの印刷状態を表す少なくとも高さ、面積、体積又は印刷はんだズレの一つが含まれる判定用データを生成するデータ生成手段(7)とを有し、該測定値記憶手段の測定値に基づいてはんだの印刷状態を識別可能に表示手段(12)に表示する印刷はんだ検査装置において、 前記各位置における判定用データと所定の基準データとの差を表す偏差値を求めて出力する差演算手段(9)と、所定幅に亘って変化する表示上の階調に各該偏差値を割り振り、該偏差値に対応する階調を求める階調割振手段(10)と、 前記表示手段に、前記プリント板の各位置を示すレイウトを表示させ、該階調割振手段の出力を受けて、前記各位置に当該位置の偏差値に対応する階調表示を行わせると共に、少なくとも前記所定幅の上限近傍の特定階調及び下限近傍の特定階調に対する前記偏差値を階調スケールとして表示させる表示制御手段(11)とを備えたことを特徴とする印刷はんだ検査装置。
IPC (5件)：
G01B 11/02 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/28 ,  G01N 21/956 ,  H05K 3/34
FI (5件)：
G01B11/02 Z ,  G01B11/00 C ,  G01B11/28 Z ,  G01N21/956 B ,  H05K3/34 512B
Fターム (31件)：
2F065AA06 ,  2F065AA20 ,  2F065AA24 ,  2F065AA49 ,  2F065AA58 ,  2F065AA59 ,  2F065BB27 ,  2F065CC01 ,  2F065CC26 ,  2F065FF41 ,  2F065GG04 ,  2F065PP12 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ41 ,  2F065QQ42 ,  2F065SS01 ,  2F065SS13 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051EA12 ,  2G051EA16 ,  2G051FA01 ,  5E319BB05 ,  5E319CD29 ,  5E319CD53 ,  5E319GG15
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 印刷半田検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-200936   出願人：アンリツ株式会社
  • はんだ検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-159706   出願人：オムロン株式会社
審査官引用 (18件)
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