計測内視鏡装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：伊藤進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-042315
公開番号（公開出願番号）：特開平11-235308
出願日： 1998年02月24日
公開日（公表日）： 1999年08月31日
要約：

【要約】【課題】計測値に対する測定誤差を改善し、常に高精度で三次元形状計測を行う。【解決手段】回転フィルタ11の緑色光透過部と青色光透過部が光路中に挿入されているとき同期回路22からの同期信号に基づいて測定光投影光源6が発光するが、計測開始指示入力時には、シャッタ制御回路15がシャッタ16を閉じるように動作を行って照明光が消灯状態になっているので、G用メモリ26及びB用メモリ27に記憶された各画像信号にはスリット状の測定光による反射成分のみが存在する。前記加算平均回路31では、各画像信号からがスリット状の測定光による反射成分を2値化処理によって抽出した後、お互いを加算し、2で除算することにより平均値をが求める。

請求項（抜粋）：

被写体へ測定光の投影する測定光投影手段と、前記被写体に面順次式の照明光を照射する照明光照射手段と、前記被写体へ投影した前記測定光の反射光から前記被写体の形状を計算する計測手段とを備えた計測内視鏡装置において、前記照明光照射手段の動作状態に応じて前記測定光投影手段を制御する投影制御手段と、前記投影制御手段の動作状態に基づいて前記被写体の複数の画像を記憶する画像記憶手段とを備え、前記計測手段は、前記画像記憶手段が記憶した前記被写体の複数の画像に基づき、前記被写体の形状を計算することを特徴とする計測内視鏡装置。

IPC (5件)：

A61B 1/04 370 , A61B 1/00 300 , A61B 1/06 , G01B 11/24 , G02B 23/24

FI (6件)：

A61B 1/04 370 , A61B 1/00 300 D , A61B 1/06 A , G01B 11/24 Z , G02B 23/24 B , G02B 23/24 Z

引用特許：

審査官引用 (8件)

X線検査装置及びX線検査装置で使用されるノイズ低減手段
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-168249 出願人：フィリップスエレクトロニクスエヌベー
特開昭60-262001
特開昭58-020089

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