特許
J-GLOBAL ID：200903063307268776

光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム

発明者：
大橋 宏通

大橋 宏通 について


出願人/特許権者：
日東電工株式会社

日東電工株式会社 について


代理人 (3件)： 尾崎 雄三 ,  梶崎 弘一 ,  谷口 俊彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-183468
公開番号（公開出願番号）：特開2008-116437
出願日： 2007年07月12日
公開日（公表日）： 2008年05月22日
要約：
【課題】本発明の目的は、ユーザごとの判定条件を用いる事で歩留まり向上、製造コスト低下、生産性を大幅に改善することにある。【解決手段】光学表示装置の部材である光学フィルムを少なくとも有するシート状製品の欠点を検査する欠点検査装置10であって、シート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体の欠点を検出する欠点検出手段と、欠点検出手段で検出された欠点に関する情報である欠点情報を作成する欠点情報作成手段とを備え、欠点情報は、枚葉のシート状製品を製造するために用いられることを特徴とする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光学表示装置の部材である光学フィルムを少なくとも有するシート状製品の欠点を検査する欠点検査装置であって、 シート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体の欠点を検出する欠点検出手段と、 前記欠点検出手段で検出された欠点に関する情報である欠点情報を作成する欠点情報作成手段と、を備え、 前記欠点情報は、ロール状または枚葉のシート状製品を製造するために用いられることを特徴とする欠点検査装置。
IPC (4件)：
G01N 21/958 ,  G01N 21/892 ,  G01N 21/89 ,  G02B 5/30
FI (4件)：
G01N21/958 ,  G01N21/892 A ,  G01N21/89 H ,  G02B5/30
Fターム (26件)：
2G051AA41 ,  2G051AB01 ,  2G051AB03 ,  2G051AB06 ,  2G051AB07 ,  2G051AB20 ,  2G051BA11 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051DA13 ,  2G051DA20 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EA23 ,  2G051EC01 ,  2G051ED23 ,  2G051FA01 ,  2H049BA02 ,  2H049BA06 ,  2H049BB33 ,  2H049BC01 ,  2H049BC13 ,  2H049BC22
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (5件)
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