特許
J-GLOBAL ID：200903063526942628

光沢測定装置、光沢測定方法及び光沢測定プログラム

発明者：
桑田 良隆

桑田 良隆 について


出願人/特許権者：
富士ゼロックス株式会社

富士ゼロックス株式会社 について


代理人 (4件)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  西元 勝一 ,  福田 浩志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-336340
公開番号（公開出願番号）：特開2006-284550
出願日： 2005年11月21日
公開日（公表日）： 2006年10月19日
要約：
【課題】被測定物に光沢むらがある場合であっても主観的光沢度と対応の取れた光沢度の評価値を算出することができる光沢測定装置、光沢測定方法及び光沢測定プログラムを提供する。【解決手段】エリアセンサ22Aは、被測定物12表面からの正反射光の所定画素毎の受光量に応じて画像情報を取得し、鏡面光沢度算出部32は、取得した画像情報の画素毎の受光量に基づいて画素毎の光沢度を算出し、評価値算出部38は、算出された前記光沢度に基づいて前記被測定物の光沢度を示す評価値を算出する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
光源から光を照射して被測定物により反射された正反射光に基づいて前記被測定物の光沢度を示す評価値を求める光沢測定装置であって、 前記被測定物表面からの正反射光の所定画素毎の受光量に応じて画像情報を取得する取得手段と、 前記取得手段により取得された画像情報の画素毎の受光量に基づいて画素毎の光沢度を算出する画素光沢度算出手段と、 前記画素光沢度算出手段により算出された前記光沢度に基づいて前記被測定物の光沢度を示す評価値を算出する評価値算出手段と、 を備えた光沢測定装置。
IPC (1件)：
G01N 21/57
FI (1件)：
G01N21/57
Fターム (20件)：
2G059AA02 ,  2G059BB08 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE13 ,  2G059GG01 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ26 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM03 ,  2G059MM04 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM14
引用特許：
出願人引用 (3件)
  • 光沢測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-115534   出願人：ダイハツ工業株式会社
  • 光沢度測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-132588   出願人：株式会社豊田中央研究所
  • 光沢評価方法および装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-107219   出願人：富士ゼロックス株式会社
審査官引用 (2件)
  • 特開平3-220443
  • 光沢度測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-132588   出願人：株式会社豊田中央研究所
引用文献：
審査官引用 (2件)

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