特許
J-GLOBAL ID:200903063552757677

測定ポ-ト定温化装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 上野 英夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-114389
公開番号(公開出願番号):特開2000-002730
出願日: 1999年04月22日
公開日(公表日): 2000年01月07日
要約:
【要約】【課題】電子測定器の測定ポートの温度を所望の温度に保ち、測定精度の向上を図る。【解決手段】本発明による装置は、温度制御手段と、温度検出器と、プロセッサ手段を備える。温度制御手段は、電子測定器の測定ポート20にこれを取り囲むように接続されるヒートブロック12と、ヒートシンク16、及び、これらの間に挟設された熱電冷却器14を備える。ブロック12に設けられた穴に温度検出器26が挿設されており、これによって検出された温度は、プロセッサ手段内に設けられた抵抗計28によって測定される。この測定値に応じてDC電源36の出力値が変化し、温度検出器から得られる温度が所望の温度になるように熱電冷却器が制御される。プロセッサ手段内に設けられたコンピュータ34は、このフィードバック制御が最適に動作するようにプログラミングされている。
請求項(抜粋):
電子測定器の測定ポートの温度を一定に保つための測定ポート定温化装置であって、測定ポートにおける温度を検知するための手段と、経時的に測定ポートの検知温度に処理を施すことによって、温度制御信号を発生するためのプロセッサ手段と、前記温度制御信号に応答して、測定ポートを比較的一定した温度に維持する温度制御手段とを設けて成る装置。
IPC (5件):
G01R 27/28 ,  G01D 3/028 ,  G01N 22/00 ,  G01R 35/00 ,  H01P 1/00
FI (5件):
G01R 27/28 Z ,  G01N 22/00 Z ,  G01R 35/00 A ,  H01P 1/00 D ,  G01D 3/04 D
引用特許:
審査官引用 (9件)
  • 特開平3-105264
  • バーンイン装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-293344   出願人:富士通株式会社
  • コネクタの監視装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-255722   出願人:ジャトコ株式会社
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