特許

J-GLOBAL ID：200903063834989023

三次元計測装置及び検査装置

発明者： 二村 伊久雄 ,  奥田 学
出願人/特許権者： シーケーディ株式会社
代理人 (1件)： 川口 光男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-016887
公開番号（公開出願番号）：特開2004-226331
出願日： 2003年01月27日
公開日（公表日）： 2004年08月12日
要約：

【課題】複数の製品基板に分割可能な分割部を有する基板に関し、正確に、かつ、スピーディに三次元計測、検査を行うことを可能とする。【解決手段】三次元計測装置1は、三次元計測用照射手段5と、CCDカメラ6と、主制御手段7とを備えている。プリント基板Kは、複数のブロックに分割可能な分割部を有する。主制御手段7は、各ブロック上に複数配設されたクリームハンダの高さを求めることに基づいて、三次元計測及び検査を行う。三次元計測に際しては、複数のブロック毎に基準高さが設定され、各基準高さに基づいて対応するクリームハンダの高さ計測が行われる。分割部を境として異なるブロック間で高低差が生じてしまったとしても、正確かつ速やかに三次元計測等が行われる。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

複数の製品基板に分割可能な分割部を有する基板に関し、各製品基板上に複数配設された計測対象の高さを求めることに基づいて、前記計測対象の三次元計測を行う三次元計測装置であって、 前記複数の製品基板毎に基準高さを設定し、各基準高さに基づいて、各製品基板毎の計測対象の三次元計測を行うことを特徴とする三次元計測装置。

IPC (3件)：

G01B21/20 ,  G01B11/00 ,  H05K3/34

FI (3件)：

G01B21/20 101 ,  G01B11/00 H ,  H05K3/34 512A

Fターム (46件)：

2F065AA04 ,  2F065AA24 ,  2F065BB01 ,  2F065BB05 ,  2F065CC01 ,  2F065CC26 ,  2F065CC28 ,  2F065DD10 ,  2F065EE07 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF10 ,  2F065FF61 ,  2F065FF67 ,  2F065GG04 ,  2F065HH01 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR05 ,  2F065RR07 ,  2F069AA66 ,  2F069AA96 ,  2F069BB14 ,  2F069DD15 ,  2F069GG04 ,  2F069GG07 ,  2F069JJ14 ,  2F069MM02 ,  2F069MM24 ,  2F069MM34 ,  5E319AA03 ,  5E319AB01 ,  5E319AB05 ,  5E319AC01 ,  5E319BB05 ,  5E319CD53 ,  5E319CD60 ,  5E319GG15

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 電子基板検査方法及びそれを用いた装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-227790   出願人：松下電器産業株式会社
• 電子回路パターンの欠陥検査管理システム,電子回路パターンの欠陥検査システム及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-294482   出願人：株式会社日立製作所