特許

J-GLOBAL ID：200903063861968607

形状認識装置

発明者： 石井 正美 ,  関本 清英 ,  鎌上 則夫 ,  久光 豊
出願人/特許権者： 石川島播磨重工業株式会社
代理人 (1件)： 山田 恒光 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-315235
公開番号（公開出願番号）：特開平11-148808
出願日： 1997年11月17日
公開日（公表日）： 1999年06月02日
要約：

【要約】【課題】 走査ミラーの小型化を可能とし、投光するパルスレーザー光の走査スピードを高め、対象物の形状認識の高速化を可能とする。【解決手段】 パルスレーザー光をX軸ミラー23およびY軸ミラー24を用いて二次元走査しつつ対象物17に向けて投光する投光部19と、前記対象物17からの反射レーザー光を受光する受光部20とをセンサヘッド部10に分離配置すると共に、受光部20が、パルスレーザー光の走査範囲と同じかそれより広い視野角を有する集光レンズ21と、この集光レンズ21の焦点領域に設置された撮像素子22とにより構成されるようにしている。

請求項（抜粋）：

パルスレーザー光をX軸ミラーおよびY軸ミラーを用いて二次元走査しつつ対象物に向けて投光する投光部と、前記対象物からの反射レーザー光を受光する受光部とをセンサヘッド部に分離配置すると共に、受光部を、パルスレーザー光の走査範囲と同じかそれより広い視野角を有する集光レンズと、この集光レンズの焦点領域に設置された撮像素子とで構成したことを特徴とする形状認識装置。

IPC (2件)：

G01B 11/24 ,  G01S 17/10

FI (2件)：

G01B 11/24 A ,  G01S 17/10

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭55-096475
  
• 3次元形状計測装置及び計測方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-320858   出願人：三菱重工業株式会社
• 走査型寸法測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-196676   出願人：日本信号株式会社
• 特開平3-125926