特許
J-GLOBAL ID:200903064029428968

波形歪み検出装置、システム、及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 後藤 洋介 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-394746
公開番号(公開出願番号):特開2003-198467
出願日: 2001年12月26日
公開日(公表日): 2003年07月11日
要約:
【要約】【課題】 精度の良い波形歪み検出を行うことができる波形歪み検出装置を提供することである。【解決手段】 受信器端での光入力パワを一定の状態にし、光入力信号を光電気変換した後の電気パルス信号を差動増幅器7にて所望の飽和レベル振幅まで増幅し、低域フィルタ9,10にて、増幅された反転出力及び非反転出力の平均値(電流、電圧)を検出し、それらの差をもって波形歪みの変化の状態を判断する。
請求項(抜粋):
光伝送路を伝搬した入力光信号を電気パルス信号に変換する光電気変換手段と、前記電気パルス信号の歪み状態がパルス圧縮かパルス拡がりかを検出する波形歪み検出手段を有し、前記波形歪み検出手段は、所定の基準電圧値と波形歪みを生じた前記電気パルス信号の電圧値との差を比較して増幅し、それぞれ非反転信号及び反転信号として出力する差動増幅器と、前記非反転信号及び前記反転信号をそれぞれ所定周波の信号へ変換し、平均値化する第1及び第2の低域フィルタと、前記2つの平均値化された信号の差をとって波形歪み検出信号として出力する電圧比較器を具備し、前記光伝送路の波長分散による信号波形の変化を検出することを特徴とする波形歪み検出装置。
IPC (4件):
H04B 10/02 ,  H03K 17/78 ,  H04B 10/18 ,  H04L 25/02 302
FI (3件):
H03K 17/78 R ,  H04L 25/02 302 C ,  H04B 9/00 M
Fターム (20件):
5J050AA01 ,  5J050BB20 ,  5J050CC12 ,  5J050DD18 ,  5J050EE02 ,  5J050EE31 ,  5J050EE35 ,  5J050EE40 ,  5J050FF01 ,  5K002AA03 ,  5K002AA04 ,  5K002CA01 ,  5K002CA02 ,  5K002DA05 ,  5K002DA07 ,  5K002EA05 ,  5K002FA01 ,  5K029CC04 ,  5K029HH11 ,  5K029LL01
引用特許:
審査官引用 (5件)
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