特許
J-GLOBAL ID：200903064410557553

高さ測定装置

発明者：
西村 重雄

西村 重雄 について


出願人/特許権者：
株式会社安永

株式会社安永 について


代理人 (1件)： 長門 侃二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-374437
公開番号（公開出願番号）：特開2001-188008
出願日： 1999年12月28日
公開日（公表日）： 2001年07月10日
要約：
【要約】【課題】 高解像度カメラを用いた場合であっても、その測定処理速度の高速化を図ることのできる簡易な構成の高さ測定装置を提供する。【解決手段】 高さ測定の対象物11にスリット光13を照射する光源12と、このスリット光の照射方向とは異なる角度から測定対象物を視野して該高さ測定対象部位上のスリット光像を撮像する高解像度カメラ等のイメージセンサ15とを備えてなり、特に画像処理手段17においては、イメージセンサの撮像面15b上においてスリット光像16が結像される可能性のある領域Aの画像信号だけを部分的に読み出して、該画像信号に含まれるスリット光像から測定対象物の高さを求める。
請求項（抜粋）：
高さ測定対象部位にスリット光を照射する光源と、上記スリット光の照射方向とは異なる角度から前記高さ測定対象部位を視野して該高さ測定対象部位上のスリット光像を撮像するイメージセンサと、このイメージセンサの撮像面上において前記スリット光像が結像される可能性のある領域の画像信号だけを部分的に読み出して、該画像信号に含まれるスリット光像から前記高さ測定対象部位の高さを求める画像処理手段とを具備したことを特徴とする高さ測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/02 ,  G01B 11/24 ,  G01C 3/06
FI (3件)：
G01B 11/02 H ,  G01C 3/06 A ,  G01B 11/24 A
Fターム (17件)：
2F065AA24 ,  2F065BB15 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065GG04 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ36 ,  2F112AA09 ,  2F112BA05 ,  2F112CA08 ,  2F112CA14 ,  2F112EA01 ,  2F112FA36
引用特許：
審査官引用 (4件)
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