特許
J-GLOBAL ID:200903064443932791

自動分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 作田 康夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-361386
公開番号(公開出願番号):特開2005-127757
出願日: 2003年10月22日
公開日(公表日): 2005年05月19日
要約:
【課題】 本発明は反応過程における測定値を利用して、検査が適切に行われたか否かを判定する手段を提供し、1日に数千から数万テストが計測される中においても異常反応を示す項目の見落しを防止することを目的とする。【解決手段】 分析検査結果の検証を実現するために、反応過程における光度計の値を計測し、反応過程データから分析測定結果を検証するものである。また正常な反応過程データに関するデータベースを備え、測定された反応過程データ34をデータベースと照合することによって正常データか否かを判定するエンジンを備えている。さらに反応過程に関するデータベースを構築するために当該自動分析装置(検査項目)で測定したデータと、分析条件が異なり、結果が一定の許容範囲内の(一致している)測定結果を取得する演算部を備える。【選択図】図7
請求項(抜粋):
試料に試薬を添加する試薬添加機構と、 試料と試薬の反応による物理的状態の変化を測定する測定機構と、 前記物理的状態の変化を時系列的に記憶する記憶機構と、 予め正常と定義した複数の時系列的データから各時刻のデータに対する全時刻のデータの関係の強度および各時刻における平均値からなる理想的正常データを記憶したデータベースと、前記物理的状態の変化の時系列データを前記データベースから理想的な正常データ群の特徴量からの差異を、前記データベースに記憶された全時刻間の関係の強度を加味して算出する演算処理手段、 を備えた分析装置であって、更に、 反応により得られた物理的状態の時系列データを前記の演算処理手段によって算出した差異を評価することにより、 該反応が正常に進行したか異常が発生したかを判定する判定機構を備えたことを特徴とする分析装置。
IPC (1件):
G01N35/00
FI (2件):
G01N35/00 A ,  G01N35/00 F
Fターム (7件):
2G058CB04 ,  2G058CD04 ,  2G058EA03 ,  2G058EA05 ,  2G058GA02 ,  2G058GD00 ,  2G058GE00
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (5件)
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引用文献:
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