特許
J-GLOBAL ID:200903065111422257
位置計測システム
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
田中 清
, 村山 みどり
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-336341
公開番号(公開出願番号):特開2004-028977
出願日: 2002年11月20日
公開日(公表日): 2004年01月29日
要約:
【課題】光の干渉を利用した位置計測を単純な構成で低コストで行うことができる位置計測システムを提供する。【解決手段】この位置計測システムは、レーザ光を放射するレーザ光源1と、異なる光路を通過するレーザ光により干渉模様を生じさせる光学レンズ系2と、干渉模様を検出する検出装置3と、検出装置からの検出信号に基いて光源および検出装置の少なくとも一つの位置を求める演算装置30とを備える。ここで光学レンズ系2は例えば球面レンズを用いることができ、この場合、干渉模様は球面収差を利用して得られる。また光学レンズ系2として多重焦点レンズを用いることができる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
レーザ光を放射する光源と、異なる光路を通過する前記レーザ光により干渉模様を生じさせる光学レンズ系と、前記干渉模様を検出する検出装置と、前記検出装置からの検出信号に基いて前記光源および検出装置の少なくとも一つの位置を求める演算装置とを備えたことを特徴とする位置計測システム。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (9件):
2F065AA01
, 2F065FF51
, 2F065GG04
, 2F065GG23
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL07
, 2F065LL08
, 2F065LL10
引用特許:
審査官引用 (6件)
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形状測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-168825
出願人:ミノルタカメラ株式会社
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計測内視鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-275554
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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筆記用具の動きの追跡
公報種別:公表公報
出願番号:特願2001-534078
出願人:デジタルインクインコーポレーテッド
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三次元形状測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-066200
出願人:セイコーエプソン株式会社
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観察光学系
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-103608
出願人:コニカ株式会社
-
特開平2-101419
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