特許
J-GLOBAL ID:200903065479493324

プラズマ処理装置、プラズマ処理監視用窓部材及びプラズマ処理装置用の電極板

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小原 肇
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-155539
公開番号(公開出願番号):特開2000-349070
出願日: 1999年06月02日
公開日(公表日): 2000年12月15日
要約:
【要約】【課題】 従来のプラズマ処理装置の場合には、モニター用の窓が電極に形成されていると、窓の形態によっては電極間の電界が大きく影響され、しかも電極にガス分散孔が形成されたものであれば窓の影響でプロセスガスを均一に供給することができず、均一なプラズマ処理が難しい。【解決手段】 本発明のプラズマ処理装置は、処理容器1内に配置されてその内部にプロセスガスを供給する複数のガス分散孔2Dを有する上部電極2と、上部電極2との間でプラズマを発生させて被処理体にプラズマ処理を施す下部電極3と、これら両電極間のプラズマ処理を監視するための計測光の光路11を有する窓部材4とを備え、4個の開口部2Fをガス分散孔2Dの間にその配列を犠牲にすることなく介在させて上部電極2に設けると共に、光路11をガス分散孔2Dから遮断して開口部2Fに連接したことを特徴とする。
請求項(抜粋):
処理容器内に配置されてその内部にプロセスガスを供給する複数のガス分散孔を有する第1の電極と、第1の電極と所定間隔を空けて対向し且つ第1の電極との間でプラズマを発生させて被処理体にプラズマ処理を施す第2の電極と、これら両電極間のプラズマ処理を監視するための計測光の光路を有する窓部材とを備えたプラズマ処理装置において、少なくとも一つの開口部を上記ガス分散孔の間にその配列を犠牲にすることなく介在させて第1の電極に設けると共に、上記光路を上記ガス分散孔から遮断して上記開口部に連接したことを特徴とするプラズマ処理装置。
IPC (3件):
H01L 21/3065 ,  H01L 21/205 ,  H05H 1/46
FI (3件):
H01L 21/302 E ,  H01L 21/205 ,  H05H 1/46 M
Fターム (18件):
5F004AA01 ,  5F004AA15 ,  5F004BA04 ,  5F004BB13 ,  5F004BB28 ,  5F004BC01 ,  5F004CB02 ,  5F004CB10 ,  5F004DA01 ,  5F004DB03 ,  5F045AA08 ,  5F045BB01 ,  5F045DP03 ,  5F045EB10 ,  5F045EC03 ,  5F045EF05 ,  5F045EH13 ,  5F045GB09
引用特許:
出願人引用 (5件)
  • 特開平2-023617
  • 特開平3-148118
  • 半導体製造装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-324653   出願人:株式会社日立製作所
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審査官引用 (4件)
  • 特開平2-023617
  • 特開平3-148118
  • 半導体製造装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-324653   出願人:株式会社日立製作所
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