特許
J-GLOBAL ID：200903065573620933

画像処理装置及び方法

発明者：
ウォーレス,ヴィンセント,パトリック

ウォーレス,ヴィンセント,パトリック について

, 
ウッドワード,ルース,メアリー

ウッドワード,ルース,メアリー について

, 
アーノン,ドナルド,ドミニク

アーノン,ドナルド,ドミニク について

, 
コール,ブライアン,エドワード

コール,ブライアン,エドワード について


出願人/特許権者：
テラビュー リミテッド

テラビュー リミテッド について


代理人 (3件)： 伊東 忠彦 ,  大貫 進介 ,  伊東 忠重
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-527406
公開番号（公開出願番号）：特表2005-504959
出願日： 2002年07月29日
公開日（公表日）： 2005年02月17日
要約：
標本を画像処理する方法で、該方法は:(a)25GHzから100THzまでの範囲の複数の周波数を有する、電磁放射線パルスによって標本を照射する工程;(b)時間領域において、標本から反射された放射線と標本によって透過された放射線とのいずれか又は両方の振幅に関する第1パラメータを判定する工程;(c)時間に対して第1パラメータのデータ群の物理的特徴と一致する第2時間値で第1パラメータの値に対して第1時間値で第1パラメータの値を算定する工程;及び(d)標本の異なった点について工程(c)で算定された値を表すことによって画像を生成する工程;を有する。
請求項（抜粋）：
標本を画像処理する方法であって: 電磁放射線の、25GHzから100THzまでの範囲における複数の周波数を有する、パルスによって標本を照射する第1工程; 時間領域において、前記標本から反射された前記放射線と前記標本によって透過された前記放射線とのいずれか又は両方の振幅に少なくとも関係する第1パラメータを判定する第2工程; 第1時間値での前記第1パラメータの値を、第2時間値での前記第1パラメータの値に対して、時間において前記第2時間値が前記第1パラメータの物理的特徴と一致するように、算定する第3工程;及び 前記標本の異なる点について前記第3工程において算定された値を表すことによって画像を生成する第4工程; を有することを特徴とする方法。
IPC (2件)：
G01N21/17 ,  G01N21/35
FI (2件)：
G01N21/17 625 ,  G01N21/35 Z
Fターム (27件)：
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059FF02 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ21 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM03 ,  2G059MM05 ,  2G059MM08 ,  2G059MM09
引用特許：
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM