特許
J-GLOBAL ID：200903066103035534
液晶表示装置とその検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
杉浦 正知
, 森 幸一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-012506
公開番号（公開出願番号）：特開2004-226551
出願日： 2003年01月21日
公開日（公表日）： 2004年08月12日
要約：
【課題】ディジタル信号出力に基づいて画素欠陥の有無を検査し、また、データ信号線の容量のバラツキ、測定系の容量のバラツキに影響されずに正確な検査を可能とする。【解決手段】隣接する2本のデータ信号線DA1〜DAnとDB1〜DBnとの出力信号がコンパレータCMP1〜CMPnのそれぞれに供給される。検査時に先ず信号入力端子14a、14bに異なる信号電位が入力され、第1行の全画素から最後の行迄順に信号が書き込まれる。次に端子14a、14bに等しい電圧が供給されるプリチャージを経て、第1行の全画素から最後の行迄順に読み出しがなされる。読み出された信号電位がコンパレータCMP1〜CMPnによって比較される。コンパレータCMP1〜CMPnのディジタルの比較出力が書き込まれた電圧の大小関係を保持しているか否かによって画素欠陥が検出される。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数のデータ信号線のそれぞれと複数のゲート信号線のそれぞれとが交差し、各々の交差位置において画素トランジスタの制御電極が上記ゲート信号線に接続され、上記画素トランジスタの入力電極が上記データ信号線にそれぞれ接続されると共に、上記画素トランジスタの出力電極がキャパシタに接続された液晶表示装置において、
2本の上記データ信号線毎に設けられ、上記2本のデータ信号線の電圧を比較する比較手段を備えたことを特徴とする液晶表示装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G02F1/1368
, G02F1/13 101
2H088FA13
, 2H088HA02
, 2H088HA08
, 2H088MA20
, 2H092GA31
, 2H092JA23
, 2H092JB21
, 2H092JB22
, 2H092JB31
, 2H092JB61
, 2H092JB77
, 2H092KA02
, 2H092MA01
, 2H092MA56
, 2H092NA27
, 2H092NA30
