液晶表示パネル

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：大前要
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-210714
公開番号（公開出願番号）：特開2000-047255
出願日： 1998年07月27日
公開日（公表日）： 2000年02月18日
要約：

【要約】【課題】液晶注入工程前のアレイ基板の状態において、画素欠陥の検査を行うことができ、しかも短い時間で検査を行うことができるようにした液晶表示パネルを提供する。【構成】線順次駆動方式により表示を行う液晶表示パネルである。走査信号線V1,...,Vnに走査信号を伝達する走査信号線駆動回路18及び画像信号線S1,...,Snに画像信号を伝達する画像信号線駆動回路17が、前記アレイ基板11上に形成された半導体層により構成されている。画像信号線S1,...,Snの一方側の端部には、画像信号線駆動回路17が接続され、画像信号線S1,...,Snの他方側の端部には、画素欠陥を検査するための画素欠陥検査用回路20が接続されている。画素欠陥検査用回路20は、アレイ基板11上に形成された半導体層により構成されている。

請求項（抜粋）：

複数の画像信号線と複数の走査信号線とがマトリクス状に形成され、且つ画像信号線と走査信号線との各交点近傍位置にそれぞれ画素スイッチング素子が形成されたアレイ基板を備え、前記走査信号線に走査信号を伝達する走査信号線駆動回路及び前記画像信号線に画像信号を伝達する画像信号線駆動回路が、前記アレイ基板上に形成された半導体層により構成され、線順次駆動方式により表示を行う液晶表示パネルにおいて、前記画像信号線の一方側の端部には、前記画像信号線駆動回路が接続され、画像信号線の他方側の端部には、画素欠陥を検査するための画素欠陥検査用回路が接続されており、この画素欠陥検査用回路は、前記アレイ基板上に形成された半導体層により構成されていることを特徴とする液晶表示パネル。

IPC (3件)：

G02F 1/136 500 , G02F 1/1345 , G09G 3/36

FI (3件)：

G02F 1/136 500 , G02F 1/1345 , G09G 3/36

Fターム (46件)：

2H092GA59 , 2H092HA28 , 2H092JA24 , 2H092JA35 , 2H092JA39 , 2H092JA43 , 2H092JA44 , 2H092JB57 , 2H092JB77 , 2H092KA03 , 2H092KA04 , 2H092KA05 , 2H092KA10 , 2H092KA12 , 2H092KA18 , 2H092KB25 , 2H092MA05 , 2H092MA07 , 2H092MA08 , 2H092MA18 , 2H092MA27 , 2H092MA30 , 2H092MA37 , 2H092MA41 , 2H092MA57 , 2H092MA58 , 2H092NA13 , 2H092NA29 , 2H092NA30 , 2H092PA06 , 5C006AC02 , 5C006AF44 , 5C006AF51 , 5C006AF53 , 5C006BB16 , 5C006BC20 , 5C006BF03 , 5C006BF06 , 5C006BF11 , 5C006BF14 , 5C006BF26 , 5C006BF31 , 5C006BF43 , 5C006EB01 , 5C006EB04 , 5C006FA00

引用特許：

審査官引用 (11件)

アクティブマトリクス基板の検査方法,アクティブマトリクス基板,液晶装置および電子機器
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-029568 出願人：セイコーエプソン株式会社
多結晶シリコン薄膜トランジスタアレイ検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-223230 出願人：株式会社アドバンテスト
特開平4-288588

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