特許
J-GLOBAL ID：200903066246189087
走査型ACホール顕微鏡とその測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
金田 暢之 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-020041
公開番号（公開出願番号）：特開2001-264231
出願日： 2001年01月29日
公開日（公表日）： 2001年09月26日
要約：
【要約】【課題】 走査型ACホール顕微鏡と磁性材料の領域パターンの測定する用法を提供すること。【解決手段】 磁性材料には磁気格納媒体などがあり、外部から加えられたAC磁界の影響下で、領域境界の振動運動を測定することにより領域パターンが測定される。これにより、不動の領域と可動の領域との区別が可能になる。
請求項（抜粋）：
不動の領域と可動の領域との区別を可能にする、外部から加えられたAC磁界の影響下で、領域境界の振動運動を測定することにより、磁性材料の領域パターンを測定する走査型ACホール顕微鏡であって、a.一定のDC磁界H0を磁性材料試料に加えるための手段と、b.磁性材料試料から見た正味の磁界H(t)が、H(t)=H0+Haccos(ωt)となるように、交番AC磁界Hacを磁性材料試料にさらに加えるための手段と、c.試料がホールセンサで走査されたときに、磁性材料試料のAC応答の空間画像を検出するための手段とを備える走査型ACホール顕微鏡。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 13/22 A
, G01N 27/72
