特許
J-GLOBAL ID:200903066858998405
積層体およびその形成方法、絶縁膜、ならびに半導体装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
大渕 美千栄
, 布施 行夫
, 井上 一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-313715
公開番号(公開出願番号):特開2005-199697
出願日: 2004年10月28日
公開日(公表日): 2005年07月28日
要約:
【課題】 低い比誘電率を有し、密着性に優れた積層体およびその形成方法、絶縁膜、ならびに半導体装置を提供する。【解決手段】 本発明の積層体は、第1のシリカ系膜と、第2のシリカ系膜と、有機系膜とを含み、前記第2のシリカ系膜は、炭素-炭素二重結合または炭素-炭素三重結合を有する1価の有機基を有する。 本発明の積層体の形成方法は、基材の上に第1のシリカ系膜のための第1の塗膜を形成し、前記第1の塗膜の上に、第2のシリカ系膜のための炭素-炭素二重結合または炭素-炭素三重結合を有する1価の有機基を有する第2の塗膜を形成し、前記第2の塗膜の上に、前記有機系膜のための第3の塗膜を形成し、前記第1〜第3の塗膜からなる積層膜を硬化すること、を含む。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
第1のシリカ系膜と、第2のシリカ系膜と、有機系膜とを含み、
前記第2のシリカ系膜は、炭素-炭素二重結合または炭素-炭素三重結合を有する1価の有機基を有する、積層体。
IPC (5件):
B32B27/00
, C09D183/02
, C09D183/07
, C09D183/14
, H01L21/312
FI (5件):
B32B27/00 101
, C09D183/02
, C09D183/07
, C09D183/14
, H01L21/312 N
Fターム (71件):
4F100AA20
, 4F100AK01C
, 4F100AK49C
, 4F100AK52A
, 4F100AK52B
, 4F100AK53C
, 4F100AK54C
, 4F100AT00D
, 4F100BA03
, 4F100BA04
, 4F100BA10C
, 4F100BA10D
, 4F100EG00
, 4F100EH461
, 4F100EH462
, 4F100EJ082
, 4F100EJ412
, 4F100EJ532
, 4F100GB41
, 4F100JG04
, 4F100JG05
, 4F100JK06
, 4F100YY00
, 4J038DL021
, 4J038DL101
, 4J038DL161
, 4J038MA07
, 4J038NA12
, 4J038NA21
, 4J038PA06
, 4J038PB09
, 4J038PC05
, 4J246AA02
, 4J246AA03
, 4J246AB15
, 4J246BA14
, 4J246BB02X
, 4J246BB020
, 4J246BB022
, 4J246BB16X
, 4J246BB160
, 4J246BB161
, 4J246CA13X
, 4J246CA130
, 4J246CA330
, 4J246CA34X
, 4J246CA340
, 4J246CA36X
, 4J246CA360
, 4J246FA131
, 4J246FB271
, 4J246GB28
, 4J246GB29
, 4J246GC37
, 4J246GD08
, 4J246HA62
, 5F058AA08
, 5F058AA10
, 5F058AB01
, 5F058AB06
, 5F058AC02
, 5F058AC03
, 5F058AD02
, 5F058AD04
, 5F058AD05
, 5F058AD09
, 5F058AD10
, 5F058AF04
, 5F058AG01
, 5F058AG10
, 5F058AH02
引用特許:
出願人引用 (2件)
審査官引用 (1件)
-
離型フイルム
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-209505
出願人:帝人株式会社
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