特許
J-GLOBAL ID:200903066858998405

積層体およびその形成方法、絶縁膜、ならびに半導体装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 大渕 美千栄 ,  布施 行夫 ,  井上 一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-313715
公開番号(公開出願番号):特開2005-199697
出願日: 2004年10月28日
公開日(公表日): 2005年07月28日
要約:
【課題】 低い比誘電率を有し、密着性に優れた積層体およびその形成方法、絶縁膜、ならびに半導体装置を提供する。【解決手段】 本発明の積層体は、第1のシリカ系膜と、第2のシリカ系膜と、有機系膜とを含み、前記第2のシリカ系膜は、炭素-炭素二重結合または炭素-炭素三重結合を有する1価の有機基を有する。 本発明の積層体の形成方法は、基材の上に第1のシリカ系膜のための第1の塗膜を形成し、前記第1の塗膜の上に、第2のシリカ系膜のための炭素-炭素二重結合または炭素-炭素三重結合を有する1価の有機基を有する第2の塗膜を形成し、前記第2の塗膜の上に、前記有機系膜のための第3の塗膜を形成し、前記第1〜第3の塗膜からなる積層膜を硬化すること、を含む。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
第1のシリカ系膜と、第2のシリカ系膜と、有機系膜とを含み、 前記第2のシリカ系膜は、炭素-炭素二重結合または炭素-炭素三重結合を有する1価の有機基を有する、積層体。
IPC (5件):
B32B27/00 ,  C09D183/02 ,  C09D183/07 ,  C09D183/14 ,  H01L21/312
FI (5件):
B32B27/00 101 ,  C09D183/02 ,  C09D183/07 ,  C09D183/14 ,  H01L21/312 N
Fターム (71件):
4F100AA20 ,  4F100AK01C ,  4F100AK49C ,  4F100AK52A ,  4F100AK52B ,  4F100AK53C ,  4F100AK54C ,  4F100AT00D ,  4F100BA03 ,  4F100BA04 ,  4F100BA10C ,  4F100BA10D ,  4F100EG00 ,  4F100EH461 ,  4F100EH462 ,  4F100EJ082 ,  4F100EJ412 ,  4F100EJ532 ,  4F100GB41 ,  4F100JG04 ,  4F100JG05 ,  4F100JK06 ,  4F100YY00 ,  4J038DL021 ,  4J038DL101 ,  4J038DL161 ,  4J038MA07 ,  4J038NA12 ,  4J038NA21 ,  4J038PA06 ,  4J038PB09 ,  4J038PC05 ,  4J246AA02 ,  4J246AA03 ,  4J246AB15 ,  4J246BA14 ,  4J246BB02X ,  4J246BB020 ,  4J246BB022 ,  4J246BB16X ,  4J246BB160 ,  4J246BB161 ,  4J246CA13X ,  4J246CA130 ,  4J246CA330 ,  4J246CA34X ,  4J246CA340 ,  4J246CA36X ,  4J246CA360 ,  4J246FA131 ,  4J246FB271 ,  4J246GB28 ,  4J246GB29 ,  4J246GC37 ,  4J246GD08 ,  4J246HA62 ,  5F058AA08 ,  5F058AA10 ,  5F058AB01 ,  5F058AB06 ,  5F058AC02 ,  5F058AC03 ,  5F058AD02 ,  5F058AD04 ,  5F058AD05 ,  5F058AD09 ,  5F058AD10 ,  5F058AF04 ,  5F058AG01 ,  5F058AG10 ,  5F058AH02
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (1件)
  • 離型フイルム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-209505   出願人:帝人株式会社

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