発光素子の寿命予測方法およびこれを用いた発光駆動装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山口邦夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-080460
公開番号（公開出願番号）：特開平8-279642
出願日： 1995年04月05日
公開日（公表日）： 1996年10月22日
要約：

【要約】【目的】レーザダイオードの寿命を正確に予測して誤った記録再生を未然に防止する。【構成】レーザダイオードLDと、この素子を流れる駆動電流Imを検出する電流検出用抵抗器20と、素子の近くに配された温度センサ26と、抵抗器と温度センサの出力がそれぞれ供給される制御用マイコン22とで構成され、温度T1での駆動電流値IT1、温度T2(〉T1)での駆動電流値IT2からそれぞれ求められた素子固有の温度補正係数がメモリされると共に、検出温度Tiでの劣化しきい値電流Idが算出され、検出温度Tiでの素子検出電流Idが劣化しきい値を越えたとき、ドライバ16が制御されて素子へのドライブ電流が禁止される。動作温度をも考慮しているのでレーザダイオードの寿命を正確に予測でき、これによって誤った記録再生を防止できる。

請求項（抜粋）：

特定の光出力を発光させるための駆動電流値を基準値とし、この基準値に対してそのn倍の駆動電流を発光素子交換のための劣化しきい値電流として、上記発光素子の寿命を予測するようにしたことを特徴とする発光素子の寿命予測方法。

IPC (2件)：

H01S 3/096 , H01S 3/133

FI (2件)：

H01S 3/096 , H01S 3/133

引用特許：

審査官引用 (14件)

特開平4-334078
レーザダイオードの劣化検出回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-274731 出願人：富士通株式会社
特開平4-157779

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