特許
J-GLOBAL ID:200903068047125633

物品の平滑面の検査方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 後藤 憲秋 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-312709
公開番号(公開出願番号):特開2003-121373
出願日: 2001年10月10日
公開日(公表日): 2003年04月23日
要約:
【要約】【課題】 非接触式で、検査範囲の制約を取り除き、被検査物の変動に対しても正確な検査をすることができ、しかも被検査面における細かな凹凸から、全体的な膨らみ及び凹みまで検出可能な物品の平滑面の検査方法及び装置を提供する。【解決手段】 移動する被検査物品(B)の移動方向(a)と交差する方向(b)に、前記被検査物に対して第一基準点(CP1)及び第二基準点(CP2)を設定するとともに、前記被検査面(F)に対して前記第一基準点及び第二基準点を結ぶ線上に複数の測定点(Pn)を設定し、前記被検物品の移動時(Tm)の前記測定点における前記被検査面の高さ方向の変位量(Dnm)を前記第一基準点及び第二基準点を結ぶ仮想基準直線(CL)との距離差として検出し、これらと予め定められた設定値とを対比して前記被検査面の平滑度の良否を判定する。
請求項(抜粋):
移動する被検査物品(B)の移動方向(a)と交差する方向(b)に、前記被検査物に対して第一基準点(CP1)及び第二基準点(CP2)を設定するとともに、被検査面(F)に対して前記第一基準点及び第二基準点を結ぶ線上に複数の測定点(Pn)を設定し、前記被検物品の移動時(Tm)の前記測定点における前記被検査面の高さ方向の変位量(Dnm)を前記第一基準点及び第二基準点を結ぶ仮想基準直線(CL)との距離差として検出し、これらと予め定められた設定値とを対比して前記被検査面の平滑度の良否を判定することを特徴とする物品の平滑面の検査方法。
IPC (3件):
G01N 21/90 ,  G01B 11/30 ,  G01B 21/30
FI (3件):
G01N 21/90 A ,  G01B 11/30 A ,  G01B 21/30
Fターム (27件):
2F065AA49 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM04 ,  2F065PP11 ,  2F065SS04 ,  2F065TT03 ,  2F069AA60 ,  2F069BB40 ,  2F069GG04 ,  2F069GG07 ,  2F069GG58 ,  2F069HH09 ,  2F069HH30 ,  2F069JJ17 ,  2F069PP06 ,  2G051AA14 ,  2G051AB07 ,  2G051CA03 ,  2G051CA07 ,  2G051CB02 ,  2G051DA01 ,  2G051DA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EB01
引用特許:
審査官引用 (2件)

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