特許
J-GLOBAL ID：200903068063544247

質量分析装置

発明者：
藤田 康信

藤田 康信 について

, 
西川 良博

西川 良博 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 吉岡 宏嗣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-187586
公開番号（公開出願番号）：特開2002-008585
出願日： 2000年06月22日
公開日（公表日）： 2002年01月11日
要約：
【要約】【課題】 分析対象の物質を含む試料ガス中の物質を質量分析するに先立って不要物質を除去すること。【解決手段】 質量分析部14において負イオン物質に関する質量分析をするに先立って、試料22にエアボンベ16からのエアを吹き付けて試料ガスを発生させ、この試料ガスを試料分離部12に導入し、このガス中でコロナ放電電極38によりコロナ放電を発生させ、試料を正イオン物質と負イオン物質とに分離し、不要な物質である正イオン物質を異イオン検出電極32で捕獲し、検出対象となる負イオン物質を質量分析部14に送給する。
請求項（抜粋）：
試料から分析対象の物質を含む試料ガスを導入してイオン化するとともにイオン化された試料ガスを正イオン物質と負イオン物質とに分離する試料分離手段と、前記試料分離手段により分離された一方のイオン物質を導入してイオン化するとともに、イオン化されたイオン物質の質量を分析する質量分析手段とを備えてなる質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J 49/10 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/02
FI (4件)：
H01J 49/10 ,  G01N 27/62 V ,  G01N 27/62 F ,  H01J 49/02
Fターム (5件)：
5C038GG08 ,  5C038GH04 ,  5C038GH11 ,  5C038HH02 ,  5C038HH03
引用特許：
出願人引用 (3件)

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