特許
J-GLOBAL ID:200903068831182031
質量分析計
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-543897
公開番号(公開出願番号):特表2009-532822
出願日: 2006年12月07日
公開日(公表日): 2009年09月10日
要約:
イオンが使用時に移送される開口を有する複数の電極を含む閉ループイオンガイド(1)が開示される。イオンは、閉ループイオンガイド(1)中へ注入され、イオンガイド(1)から排出される前に閉ループイオンガイド(1)を数回周回し得る。一動作モードにおいて、イオンガイド(1)は、イオンをそのイオン移動度にしたがって時間的に分離するように構成され得る。
請求項(抜粋):
複数の電極を含む閉ループイオンガイドを含む質量分析計。
IPC (3件):
H01J 49/06
, G01N 27/62
, H01J 49/26
FI (3件):
H01J49/06
, G01N27/62 K
, H01J49/26
Fターム (24件):
2G041CA01
, 2G041DA02
, 2G041DA03
, 2G041DA05
, 2G041DA09
, 2G041DA12
, 2G041DA13
, 2G041DA14
, 2G041DA16
, 2G041DA18
, 2G041GA02
, 2G041GA03
, 2G041GA05
, 2G041GA06
, 2G041GA08
, 2G041JA02
, 2G041JA16
, 2G041KA01
, 5C038FF13
, 5C038HH02
, 5C038HH05
, 5C038HH16
, 5C038HH26
, 5C038HH28
引用特許:
出願人引用 (4件)
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四重極イオン蓄積リング
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-018619
出願人:株式会社日立製作所
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質量分析方法および装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-175747
出願人:マイクロマス・リミテッド
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質量分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-346618
出願人:株式会社島津製作所
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特許第6576897号
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審査官引用 (4件)