特許
J-GLOBAL ID：200903075947680183
質量分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-346618
公開番号（公開出願番号）：特開2005-116246
出願日： 2003年10月06日
公開日（公表日）： 2005年04月28日
要約：
【課題】 高い質量分解能でMS/MS分析を行う。 【解決手段】 イオン発生源1で発生させたイオンをイオントラップ2に導入し、イオントラップ2内でイオン選別及びイオン開裂を行った後に各種フラグメントイオンをイオントラップ2から引き出し、主飛行空間3でゲート電極31を介して周回軌道Aに乗せる。周回軌道Aを所定回数飛行させることで長い飛行距離を確保し、それによって飛行時間の差を拡大する。さらにイオン反射器4でイオンを折り返すことで収差による誤差を修正した上で、イオン検出器5に入射する。これによって、装置を大型化することなく、各種のフラグメントイオンを高い質量分解能で以て分析することができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
a)イオンの集合体であるイオンパケットに対して初期的な運動エネルギーを付与する出射手段と、
b)該出射手段により運動エネルギーが付与された前記イオンパケットに含まれる各イオンを、飛行空間内で周回、旋回、又は往復軌道に沿って飛行させる飛行制御手段と、
c)前記飛行空間内の軌道を離れたイオンを電場の作用によって反射させる反射手段と、
d)該反射手段により反射されたイオンを検出する検出手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J49/40
, G01N27/62
, H01J49/06
H01J49/40
, G01N27/62 D
, G01N27/62 E
, G01N27/62 K
, H01J49/06
出願人引用 (2件)
-
飛行時間型質量分析装置
公報種別：公表公報
出願番号：特願2000-529737
出願人：シマヅリサーチラボラトリー(ヨーロッパ)リミティド
-
飛行時間型質量分析装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-319940
出願人：日本電子株式会社
審査官引用 (5件)
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