特許

J-GLOBAL ID：200903068904345856

分光光度計の品質制御法

発明者： ハンセン,ヘイネ
出願人/特許権者： ラジオメーター・メディカル・アクティーゼルスカブ
代理人 (1件)： 社本 一夫 (外5名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-555079
公開番号（公開出願番号）：特表2002-518670
出願日： 1999年06月10日
公開日（公表日）： 2002年06月25日
要約：

【要約】【課題】分光光度計の種々の誤差を決定して装置の品質を測定することによって装置の診断をする分光光度計の品質制御方法を提供すること。【解決手段】分光光度計の品質制御方法は、染料を含有する流体状の品質制御用サンプルの吸収スペクトルAm(λ)を分光光度計で測定して該吸収スペクトルを決定し、そして、CΔλ(λ)・Am(λ)(なお、CΔλ(λ)は該分光光度計のメモリ中に予め保存していた所定の係数ベクトルである)から波長シフトΔλを決定することから構成する。

請求項（抜粋）：

分光光度計の品質制御法であって、該制御法が、 該分光光度計を用いて、染料を含有する流体QCサンプルのスペクトルAm(λ)を決定する工程と、 CΔλ(λ)・Am(λ)(ただし、CΔλ(λ)は該分光光度計のメモリにあらかじめ保存されている所定の係数ベクトルである)から波長シフトΔλを決定する工程と、 を含むことを特徴とする、分光光度計の品質制御法。

IPC (6件)：

G01J 3/02 ,  G01J 3/42 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/31 ,  G01N 21/35

FI (6件)：

G01J 3/02 C ,  G01J 3/42 U ,  G01N 21/01 A ,  G01N 21/27 F ,  G01N 21/31 ,  G01N 21/35 Z

Fターム (34件)：

2G020AA04 ,  2G020BA02 ,  2G020CA02 ,  2G020CB34 ,  2G020CB43 ,  2G020CC05 ,  2G020CC26 ,  2G020CC63 ,  2G020CD03 ,  2G020CD13 ,  2G020CD24 ,  2G020CD34 ,  2G020CD37 ,  2G020CD38 ,  2G020CD39 ,  2G059AA01 ,  2G059BB13 ,  2G059CC07 ,  2G059CC18 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM12 ,  2G059NN10

引用特許：

審査官引用 (3件)

• スペクトルデータ分析のための方法及び装置とスペクトルデータ分析のために利用するコンピュータ読取り可能記憶媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-271050   出願人：ザパーキン-エルマーコーポレイション
• 分光分析計の波長補正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-371447   出願人：株式会社堀場製作所
• 分光光度計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-186377   出願人：株式会社島津製作所