特許
J-GLOBAL ID：200903069007952096

液晶パネル基板の検査方法及び液晶パネルの製造方法

発明者：
菅原 裕之

菅原 裕之 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (1件)： 鈴木 喜三郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-305743
公開番号（公開出願番号）：特開2001-124686
出願日： 1999年10月27日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
要約：
【要約】【課題】 液晶パネル基板上の配向膜の表面状態を直接的に把握することの可能な液晶パネル基板の検査方法を確立し、高い生産性で高品位の液晶パネルを製造することを可能とする液晶パネル基板の検査方法を提供する。【解決手段】 配向能を付与された配向膜13の表面上に静かに純水の水滴21を配置し、当該水滴21と、配向膜13と、大気との固液気の界面における接触角θを測定する。水滴の配置及び接触角θの測定は、予め定められた、液晶パネル基板上において相互に分散配置された数箇所において行われる。
請求項（抜粋）：
液晶に対する配向能を有する配向膜を直接若しくは間接的に基体の表面上に備えた、液晶パネルを構成するための液晶パネル基板の検査方法であって、前記配向膜の表面上に接触する液体の接触角を測定し、この接触角の値によって前記配向膜の表面凹凸状態を確認することを特徴とする液晶パネル基板の検査方法。
IPC (2件)：
G01N 13/00 ,  G02F 1/1337
FI (2件)：
G01N 13/00 ,  G02F 1/1337
Fターム (3件)：
2H090HC06 ,  2H090HC20 ,  2H090MB01
引用特許：
審査官引用 (4件)
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