特許
J-GLOBAL ID：200903069504568020

質量分析計

発明者：
高田 安章

高田 安章 について

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坂入 実

坂入 実 について

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平林 集

平林 集 について

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鍋島 貴之

鍋島 貴之 について

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小泉 英明

小泉 英明 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-292589
公開番号（公開出願番号）：特開平8-145950
出願日： 1994年11月28日
公開日（公表日）： 1996年06月07日
要約：
【要約】【目的】難揮発性塩を含む移動相溶媒を使用可能とすることにより、液体クロマトグラフ・質量分析計において、混合試料の分離能力を向上させる。【構成】液体クロマトグラフ14で分離した試料を静電噴霧部15で噴霧した後、気化部5で加熱気化し、得られたガス状の試料分子をコロナ放電部を備えるイオン化部6で化学反応によりプロトン付加反応等によりイオン化し、イオン導入細孔9a,9bから高真空部12に導入し、質量分析部13で分析する。【効果】溶液中に含まれる塩は気体状のイオンに変換され、イオン導入細孔付近の電界により軌道を曲げられ、難揮発性塩の析出によるイオン導入細孔の閉塞を防止することができる。
請求項（抜粋）：
溶液中の混合試料を分離するための液体クロマトグラフと、前記液体クロマトグラフにより分離して得られた試料を含む溶液を静電噴霧により霧化するための霧化手段と、前記霧化手段により生成された液滴を加熱して気化させる気化手段と、前記気化手段により生成されたガス状の試料分子との化学反応によって試料分子に関するイオンを生成する化学イオン化手段と、前記化学イオン化手段によって生成されたイオンを導入するためのイオン導入細孔を備える真空排気室と、前記イオン導入細孔から導入されたイオンを質量分析するための質量分析部とを含むことを特徴とする質量分析計。
IPC (4件)：
G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/10
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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