特許
J-GLOBAL ID：200903069520821886

三次元座標測定装置

発明者：
町井 暢且

町井 暢且 について


出願人/特許権者：
株式会社ニコン

株式会社ニコン について


代理人 (1件)： 木内 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-171350
公開番号（公開出願番号）：特開平8-338717
出願日： 1995年06月14日
公開日（公表日）： 1996年12月24日
要約：
【要約】【目的】 自動測定時の移動データを簡単にかつ短時間で作成することができる三次元座標測定装置を提供する。【構成】 ベース上に置かれた被検物の測定点を検出子が検出した時のX軸、Y軸及びZ軸の各スケールの値を測定座標値として読み込み、被検物の形状を測定する三次元座標測定装置において、測定座標値と測定方向を、自動測定で測定する被検物の測定点についてそれぞれ読み取るデータ読み込み部20と、測定座標値と測定方向を用いて、測定点に至るまでの検出子の経過点を作成して自動測定時の移動経路を作成する移動経路設定部23とを備える。自動測定時の移動経路を自動的に作成することができるので、面倒な作業が不要になる。
請求項（抜粋）：
定盤上に置かれた被検物の測定点を検出子が検出した時のX軸、Y軸及びZ軸の各スケールの値を測定座標値として読み込み、被検物の形状を測定する三次元座標測定装置において、前記測定座標値と、前記被検物の測定点を前記検出子が検出する時の前記検出子の移動方向である測定方向とを、自動測定で測定する前記被検物の測定点についてそれぞれ読み取る測定データ読み込み手段と、前記測定座標値と前記測定方向を用いて、前記測定点に至るまでの前記検出子の経過点を作成して前記自動測定時の移動経路を作成する移動経路作成手段とを備えていることを特徴とする三次元座標測定装置。
引用特許：
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM