特許
J-GLOBAL ID：200903069634651573

二次電池の内部抵抗検出装置および劣化判定装置ならびに内部抵抗検出方法および劣化判定方法

発明者：
堺 昭治

堺 昭治 について

, 
榊原 輝彦

榊原 輝彦 について

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岡元 敏郎

岡元 敏郎 について


出願人/特許権者：
株式会社日本自動車部品総合研究所

株式会社日本自動車部品総合研究所 について

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トヨタ自動車株式会社

トヨタ自動車株式会社 について


代理人 (4件)： 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  松山 隆夫 ,  武藤 正
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-065206
公開番号（公開出願番号）：特開2004-271447
出願日： 2003年03月11日
公開日（公表日）： 2004年09月30日
要約：
【課題】メモリ効果を考慮して、二次電池の内部抵抗値を正確に算出する。【解決手段】電池ユニット2400は、複数の電池モジュール2412からなる電池パック2410と、充電時における電池モジュール2412の電流値を検出する電流検出回路2414と、電流測定時における電池モジュール2412毎の電圧値を検出する電圧検出回路2416と、電流検出回路2414および電圧検出回路2416に接続され、検出された電流値および電圧値に基づいて電池モジュール2412毎の内部抵抗値を算出する電池ECU2422とを含む。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
電流と電圧との特性に基づいて、二次電池の内部抵抗値を検出する検出装置であって、 充電時における前記二次電池の電流値および電圧値を測定するための測定手段と、 前記測定手段により測定された充電時のみにおける前記電流値および前記電圧値に基づいて、二次電池の内部抵抗値を算出するための算出手段とを含む、二次電池の内部抵抗検出装置。
IPC (3件)：
G01R31/36 ,  B60L11/18 ,  H01M10/48
FI (3件)：
G01R31/36 A ,  B60L11/18 G ,  H01M10/48 P
Fターム (31件)：
2G016CA03 ,  2G016CB01 ,  2G016CB03 ,  2G016CB05 ,  2G016CB06 ,  2G016CB13 ,  2G016CC04 ,  2G016CC07 ,  2G016CC12 ,  2G016CC13 ,  2G016CC23 ,  2G016CD02 ,  2G016CF06 ,  5H030AA03 ,  5H030AA04 ,  5H030AS08 ,  5H030FF42 ,  5H030FF43 ,  5H115PA07 ,  5H115PA08 ,  5H115PC06 ,  5H115PG04 ,  5H115PI16 ,  5H115PI29 ,  5H115PU01 ,  5H115SE06 ,  5H115TI01 ,  5H115TI02 ,  5H115TI05 ,  5H115TI06 ,  5H115TI09
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (2件)

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