特許

J-GLOBAL ID：200903069698609597

送受信回路のテスト方法及びテスト回路付き送受信回路

発明者： 野々山 巳広
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 上柳 雅誉 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-103836
公開番号（公開出願番号）：特開2001-289912
出願日： 2000年04月05日
公開日（公表日）： 2001年10月19日
要約：

【要約】【課題】 IEEE1394インターフェースの物理層デバイスのように送受信機能を有するデバイスにおいて、テスト時間を短縮し、テストコスト及び製造費用の低減を図ること。【解決手段】 テスト時には、ポート1とポート2とが外部配線により外部接続される。エンコーダ回路21からのテストデータは、ドライバ4に転送されたのち、ポート1のレシーバ5とポート2のレシーバ7に受信される。第1テスト回路24は、そのレシーバ5の受信データを上記テストデータと比較し、この比較結果がモニタされる。また、第3テスト回路26Bは、そのレシーバ7の受信データを上記テストデータと比較し、この比較結果がモニタされる。さらに、第2テスト回路25と第3テスト回路26Aも、第2テスト回路24と第3テスト回路26Bと同様にテスト動作を行う。

請求項（抜粋）：

複数のポートを有し、その各ポートがドライバとレシーバとを備えた送受信回路のテスト方法であって、前記複数のポートのうち異なるポート同士を外部で接続し、その外部接続された前記一方のポートのドライバにテストデータを供給し、そのドライバから出力するテストデータを外部接続された前記他方のポートのレシーバで受信し、この受信データを前記ドライバに供給したテストデータと比較するようにしたことを特徴とする送受信回路のテスト方法。

IPC (2件)：

G01R 31/28 ,  G06F 13/00 301

FI (2件)：

G06F 13/00 301 U ,  G01R 31/28 U

Fターム (9件)：

2G032AA09 ,  2G032AC03 ,  2G032AH07 ,  2G032AK12 ,  2G032AK14 ,  2G032AK15 ,  5B083AA06 ,  5B083BB06 ,  5B083CC06

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 半導体装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-329429   出願人：ソニー株式会社
• インタ-フェ-ス・モジュ-ル
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-032358   出願人：ヒューレット・パッカード・カンパニー
• IEEE1394検査試験装置、IEEE1394検査試験方法、及びIEEE1394検査試験システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-112894   出願人：静岡日本電気株式会社
• 物理層デバイスのテスト方法及びテスト回路付き物理層デバイス
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-162546   出願人：セイコーエプソン株式会社

審査官引用 (1件)

• 半導体装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-329429   出願人：ソニー株式会社

引用文献：

出願人引用 (1件)

• I/Oサブシステム教科書 AdaptecのトップエンジニアDavid.W Schwadererが語る