特許
J-GLOBAL ID：200903069859055198

半田検査方法

発明者：
深川 貴弘

深川 貴弘 について

, 
香月 隆

香月 隆 について

, 
前田 亮

前田 亮 について

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山崎 公幸

山崎 公幸 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (3件)： 岩橋 文雄 ,  内藤 浩樹 ,  永野 大介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-167150
公開番号（公開出願番号）：特開2007-271638
出願日： 2007年06月26日
公開日（公表日）： 2007年10月18日
要約：
【課題】半田検査において求められた検査結果情報を有効に活用し、印刷検査の有用性を向上させることができる半田検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】基板に印刷された半田の印刷状態の検査を行う半田検査において、検査によって得られた判定結果を基板の各電極について各基板毎に累積記憶し、検査結果情報を参照する際には、累積された判定結果を画面34の半田印刷位置マップ上に、バルーンマーク36の位置および大きさによって、NG発生位置および発生頻度を表示し、さらに必要に応じて印刷方向との関連やNG種類などの詳細情報を表示させる。【選択図】図7
請求項（抜粋）：
複数の半田印刷位置が設定された基板を対象として半田の印刷状態の検査を行う半田検査方法であって、半田印刷後の基板において前記半田印刷位置を撮像する撮像工程と、前記撮像工程によって取得された撮像結果に基づいて前記印刷状態の良否を判定して判定結果を出力する判定工程と、前記判定結果を複数の基板について各半田印刷位置毎に累積記憶する記憶工程と、基板における半田印刷位置を半田印刷位置マップとして視覚的に表示した画面上において各半田印刷位置毎に前記累積記憶された判定結果を表示する判定結果累積表示工程とを含むこととを特徴とする半田検査方法。
IPC (3件)：
G01N 21/956 ,  G01B 11/30 ,  H05K 3/34
FI (4件)：
G01N21/956 B ,  G01B11/30 A ,  H05K3/34 505C ,  H05K3/34 512B
Fターム (36件)：
2F065AA03 ,  2F065AA20 ,  2F065AA49 ,  2F065BB02 ,  2F065CC01 ,  2F065CC26 ,  2F065FF42 ,  2F065JJ03 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ41 ,  2F065QQ43 ,  2F065QQ51 ,  2F065RR05 ,  2F065RR06 ,  2F065RR09 ,  2F065SS03 ,  2F065SS04 ,  2F065SS13 ,  2F065TT02 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051CA04 ,  2G051DA05 ,  2G051EA14 ,  2G051EC01 ,  2G051EC02 ,  2G051FA01 ,  5E319AA03 ,  5E319BB05 ,  5E319CC33 ,  5E319CD29 ,  5E319CD53 ,  5E319GG03 ,  5E319GG20
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (2件)

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