特許

J-GLOBAL ID：200903069999546094

試料塗布用治具および全反射吸収スペクトル測定装置

発明者： 大橋 勝己 ,  堀野 昌伸
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (3件)： 伊藤 英彦 ,  森下 八郎 ,  吉田 博由
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-277231
公開番号（公開出願番号）：特開2008-096238
出願日： 2006年10月11日
公開日（公表日）： 2008年04月24日
要約：

【課題】ペースト状の試料を無駄にすることなく、且つ、簡単に試料の設定が可能な試料塗布用治具を提供する。【解決手段】ATR装置の試料塗布用治具10は、開口部12aを有し、所定の厚さを有する板状のマスク12を含む。マスク12が測定面28に降ろされて、マスク12がATR装置のATRプリズムに当接したとき、開口部12aはATRプリズムの試料塗布面22aに位置する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

全反射吸収スペクトル測定装置の試料塗布用治具であって、 開口部を有し、所定の厚さを有する板状のマスクを含み、 前記マスクは、全反射吸収スペクトル測定装置の測定面に当接可能であり、 前記マスクを前記測定面に当接させたとき、前記開口部は、前記全反射吸収スペクトル測定装置の試料塗布面に位置する、試料塗布用治具。

IPC (2件)：

G01N 1/28 ,  G01N 21/27

FI (2件)：

G01N1/28 V ,  G01N21/27 C

Fターム (15件)：

2G052AD26 ,  2G052FA05 ,  2G052GA11 ,  2G059AA01 ,  2G059BB11 ,  2G059BB15 ,  2G059BB20 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ06 ,  2G059KK04

引用特許：

出願人引用 (2件)

• ATR装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-208399   出願人：株式会社エス・テイ・ジャパン
• 全反射吸収スペクトル測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-114323   出願人：株式会社島津製作所